[发明专利]一种液晶指向矢快速测量装置及其实现方法

摘要

本发明涉及一种液晶指向矢快速测量装置及其实现方法，通过利用基于晶体劈的偏光干涉原理将外电压驱动下液晶中透射光的偏振态改变转换成干涉条纹的移动，并利用高速相机对干涉条纹的移动进行测量，根据液晶指向矢的倾斜角和扭转角和透射光偏振态的关系，来获得液晶分子平均指向矢的动态信息。该指向矢测量方法的测量光路结构简单紧凑，测量过程中无需光学器件的调节，测量结果不受光源波动性的影响，并可同步快速测量出液晶指向矢倾斜角和扭转角，属于高精度线性测量。该方法测量速度主要依赖于相机的采集频率，可达微秒量级。

主权项

一种液晶指向矢快速测量装置，其特征在于：包括从左到右依次并排放置的起偏器、扩束镜、检偏器以及成像屏；一待测扭曲向列型液晶设置于所述起偏器和扩束镜之间；一激光光源经过所述起偏器入射到扭曲向列型液晶；一位于所述扩束镜和检偏器之间的用以形成干涉条纹的晶体斜劈，所述晶体斜劈为带有劈角的双折射晶体，且呈四棱锥状；所述扩束镜和晶体斜劈之间设有一半圆形1/4波片；还包括一用以采集干涉条纹光强数据的线阵相机，所述线阵相机设置于所述成像屏的右侧，所述线阵相机的输出端连接至一计算机用以进行数据处理。