[发明专利]半导体封装与其制造方法在审

专利信息
申请号: 201611032920.7 申请日: 2016-11-18
公开(公告)号: CN107887345A 公开(公告)日: 2018-04-06
发明(设计)人: 林柏均 申请(专利权)人: 南亚科技股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/29;H01L21/56
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司11279 代理人: 王正茂,丛芳
地址: 中国台湾桃园市龟山*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开了一种半导体封装与其制造方法,半导体封装包含半导体晶片、中介层、第一重分布层与模料。半导体晶片具有相对的第一表面与第二表面以及至少一个侧壁。侧壁连接第一表面与第二表面。中介层置于半导体晶片的第一表面上。第一重分布层置于半导体晶片的第二表面上,且电性连接半导体晶片。模料置于中介层与第一重分布层之间,且连接半导体晶片的侧壁。因半导体封装包含中介层,因此可防止或抑制半导体封装在工艺中,因半导体晶片与模料之间的热膨胀系数错配而产生的翘曲问题。
搜索关键词: 半导体 封装 与其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体封装,其特征在于,包含:半导体晶片,具有相对的第一表面与第二表面以及至少一个侧壁,所述侧壁连接所述第一表面与所述第二表面;中介层,置于所述半导体晶片的所述第一表面上;第一重分布层,置于所述半导体晶片的所述第二表面上,且电性连接所述半导体晶片;以及模料,置于所述中介层与所述第一重分布层之间,且连接所述半导体晶片的所述侧壁。
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