[发明专利]图像定位方法、透镜阵列成像方法及装置有效

专利信息
申请号: 201611035519.9 申请日: 2016-11-18
公开(公告)号: CN106791498B 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: 李其昌 申请(专利权)人: 成都微晶景泰科技有限公司
主分类号: H04N5/341 分类号: H04N5/341;H04N9/04;H04N9/64;H04N5/225;G06T3/40;G06T7/30
代理公司: 51242 成都环泰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 代理人: 李斌<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 610072 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开一种图像定位方法、透镜阵列成像方法及装置,涉及图像处理技术领域。该图像定位方法用于对一透镜阵列拍摄场景所获得的原始图像中的子图像进行定位。所述透镜阵列包括多个呈阵列排布的子透镜。所述图像定位方法包括以下步骤:S210获取一通过所述透镜阵列拍摄的参照图像中对应各子透镜的参照子图像;S220获取对应各子透镜的参照子图像的位置信息。本发明还公开包括上述图像定位方法的透镜阵列成像方法及相应成像方法的装置。本发明可准确定位透镜阵列中各子透镜的位置,从而为后续图像处理提供了准确的数据,提高了透镜阵列的成像质量。
搜索关键词: 图像 定位 方法 透镜 阵列 成像 装置
【主权项】:
1.一种图像定位方法,用于对一透镜阵列拍摄场景所获得的原始图像中的子图像进行定位,其中,所述透镜阵列包括多个呈阵列排布的子透镜,其特征在于,所述图像定位方法包括以下步骤:/nS210获取一通过所述透镜阵列拍摄的参照图像中对应各子透镜的参照子图像;/nS220获取对应各子透镜的参照子图像的位置信息;/n所述步骤S220具体包括以下步骤:/nS221建立对应所述参照图像的平面坐标系,计算所述参照图像在X方向和Y方向上的投影;/nS222初步确定所述参照图像中各子图像中心点的X坐标值和Y坐标值;/nS223精确计算所述参照图像中各子图像中心点的X坐标精确值和Y坐标精确值;/n所述步骤S222包括以下步骤:/nS2221依据所述参照图像在X方向上的投影,获得第一投影数列;/nS2222采用Kmeans算法对所述第一投影数列进行聚类,初步确定各子图像中心点的X坐标值;/nS2223依据所述参照图像在Y方向上的投影,获得第二投影数列;/nS2224采用Kmeans算法对所述第二投影数列进行聚类,初步确定各子图像中心点的Y坐标值。/n
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