[发明专利]一种锁相环自动校准方法在审
申请号: | 201611035563.X | 申请日: | 2016-11-15 |
公开(公告)号: | CN106559071A | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | 李立功;郑贤;刘亮;刘青松 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | H03L7/08 | 分类号: | H03L7/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提出了一种锁相环自动校准方法,锁相环包括鉴相器、积分电路、开关、VCO、分频器、FPGA和VCO预置DA,首先通过分频器输出频率,对锁相环进行粗校准,使锁相环成功锁住;然后通过锁相环积分误差电压对锁相环进行精确校准。本发明的锁相环自动校准方法在不需要进行人工做任何调试的情况实现精确、快速的自动校准。 | ||
搜索关键词: | 一种 锁相环 自动 校准 方法 | ||
【主权项】:
一种锁相环自动校准方法,该锁相环包括鉴相器、积分电路、VCO、分频器、FPGA和VCO预置DA,其特征在于,首先通过分频器输出频率,对锁相环进行粗校准,使锁相环成功锁住;然后通过锁相环积分误差电压对锁相环进行精校准。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611035563.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种恒温晶体振荡器
- 下一篇:一种应用于PLL的低功耗输出分频器