[发明专利]一种制备Ag2ZnSnS4同质结薄膜电池的方法有效
申请号: | 201611041994.7 | 申请日: | 2016-11-24 |
公开(公告)号: | CN106384760B | 公开(公告)日: | 2017-09-08 |
发明(设计)人: | 丁建宁;马昌昊;袁宁一;郭华飞;张克智 | 申请(专利权)人: | 常州大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/068;H01L31/032 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 213164 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种制备Ag2ZnSnS4同质结薄膜电池的方法,首先,提供SLG衬底;在所述SLG衬底上磁控溅射Mo靶材形成Mo电极层;然后,在所述Mo电极层上依次溅射SnS、ZnS、Ag三种靶材,形成叠层AZT前驱体结构;在所述叠层AZT前驱体结构上共同溅射SnS、ZnS、Ag三种靶材,形成AZT前驱体薄膜;将所述AZT前驱体薄膜硫化退火,形成AZTS半导体薄膜;接着,在所述AZTS半导体薄膜上溅射形成本征ZnO层;在所述本征ZnO层上溅射形成ITO层;最后,在ITO层上蒸发制备银电极层,形成Ag2ZnSnS4同质结薄膜电池。该方法简单,易于操作,制备得到的AZTS同质结电池,在半导体领域等方面的发展具有十分重要的科学意义。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 ag2znsns4 同质 薄膜 电池 方法 | ||
【主权项】:
一种制备Ag2ZnSnS4同质结薄膜电池的方法,其特征在于,包括:提供SLG衬底;在所述SLG衬底上磁控溅射Mo靶材形成Mo电极层;在所述Mo电极层上依次溅射SnS、ZnS、Ag三种靶材,形成叠层AZT前驱体结构;在所述叠层AZT前驱体结构上共同溅射SnS、ZnS、Ag三种靶材,形成AZT前驱体薄膜;将所述AZT前驱体薄膜硫化退火,形成AZTS半导体薄膜;在所述AZTS半导体薄膜上溅射形成本征ZnO层;在所述本征ZnO层上溅射形成ITO层;在ITO层上蒸发制备银电极层,形成Ag2ZnSnS4同质结薄膜电池。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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