[发明专利]一种用于测试气体低温吸附性能的测试装置有效

专利信息
申请号: 201611042824.0 申请日: 2016-11-21
公开(公告)号: CN106442895B 公开(公告)日: 2018-08-28
发明(设计)人: 沈福至;李来风;刘辉明;卢峻峰;黄荣进;张恒成;赵玉强;徐冬;李旭;李健;李墨囡;单奕 申请(专利权)人: 中国科学院理化技术研究所
主分类号: G01N33/00 分类号: G01N33/00
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 王喆;张文祎
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于测试气体低温吸附性能的测试装置,包括低温装置、气体吸附仪和进气管路;低温装置包括制冷机、设置在制冷机二级冷头上的用于放置测试用样品的样品腔、罩设在制冷机二级冷头及样品腔外的屏蔽罩及罩设在所述屏蔽罩外使制冷机一级冷头、制冷机二级冷头和样品腔处在真空环境下的真空罩;所述样品腔通过输气管路与所述气体吸附仪内吸附仪参考腔连接。本发明所提供的测试装置以制冷机作为冷源,其解决了现有技术中气体低温吸附性能测试装置对低温液体的过分依赖,导致实验操作复杂,造成作为低温液体的原材料大量浪费的问题。
搜索关键词: 一种 用于 测试 气体 低温 吸附 性能 装置
【主权项】:
1.一种用于测试气体低温吸附性能的测试装置,其特征在于:所述测试装置包括低温装置、用于对测试用气体与测试用样品之间的吸附特性进行测试的气体吸附仪和与所述气体吸附仪内吸附仪参考腔连接的用于测试用气体输入的进气管路;所述低温装置包括制冷机、设置在制冷机二级冷头上的用于放置测试用样品的样品腔、罩设在制冷机二级冷头及样品腔外的屏蔽罩及罩设在所述屏蔽罩外使制冷机一级冷头、制冷机二级冷头和样品腔处在真空环境下的真空罩;所述样品腔通过输气管路与所述气体吸附仪内吸附仪参考腔连接;所述测试装置还包括与所述进气管路进气端相连接的多组分气体参考腔、与所述多组分气体参考腔相连接的多组分气体输入管路、与所述进气管路并联设置的采样气体参考腔和与所述采样气体参考腔相连接的气相色谱仪。
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