[发明专利]缺陷识别方法及系统有效
| 申请号： | 201611044386.1 | 申请日： | 2016-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN106803244B | 公开（公告）日： | 2019-09-03 |
| 发明（设计）人： | 杨洋 | 申请（专利权）人： | 深圳市华汉伟业科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/70 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 郭燕;彭家恩 |
| 地址： | 518054 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种缺陷识别方法及系统，其中方法包括：获取待检测图像和模板图像；在模板图像中确定出标准图像，标准图像为检测对象的最小外接几何图形所覆盖的区域、检测对象的最小外接几何图形向外膨胀预定尺寸后所覆盖的区域或各元素的最小外接几何图形所覆盖的区域的集合；根据标准图像在待检测图像中查找出与标准图像相似度最大的区域，并将该区域确定为待检测区域；将待检测区域变换为与标准图像一致的图像；将标准图像与待检测区域进行对比，确定出有缺陷的区域。以上方法不仅可以识别出待检测区域是否有缺陷存在，还可以获得缺陷的具体位置。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 识别 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷识别方法，其特征在于，包括：获取待检测图像，所述待检测图像为拍摄的检测对象制作在实物上的图像，所述检测对象包括至少一个元素；获取模板图像，所述模板图像为包括无缺陷的检测对象的图像；在模板图像中确定出标准图像，所述标准图像为检测对象的最小外接几何图形所覆盖的区域、检测对象的最小外接几何图形向外膨胀预定尺寸后所覆盖的区域或各元素的最小外接几何图形所覆盖的区域的集合；根据标准图像在待检测图像中查找出与标准图像相似度最大的区域，并将该区域确定为待检测区域；将待检测区域根据位姿参数进行缩放和/或旋转，变换为与标准图像一致的图像；将标准图像与待检测区域进行对比，确定出有缺陷的区域。
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