[发明专利]制造半导体装置的方法在审
| 申请号： | 201611044666.2 | 申请日： | 2016-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN107230636A | 公开（公告）日： | 2017-10-03 |
| 发明（设计）人： | 吴俊毅;李亮峣;蔡宗杰 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/336 | 分类号： | H01L21/336;H01L29/78 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人： | 徐金国 |
| 地址： | 中国台湾新竹市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 在一种制造半导体装置的方法中，第一介电层形成于设置于基板上的下方结构上。抗平坦化层形成于第一介电层上。第二介电层形成于第一介电层及抗平坦化层上。对第二介电层、抗平坦化层及第一介电层执行平坦化作业。抗平坦化层由异于第一介电层的材料所制成。 | ||
| 搜索关键词： | 制造 半导体 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种制造半导体装置的方法，其特征在于，包含：形成一第一介电层于设置于一基板上的一下方结构上；形成一抗平坦化层于该第一介电层上；形成一第二介电层于该第一介电层及该抗平坦化层上；以及对该第二介电层、该抗平坦化层及该第一介电层执行一平坦化作业，其中该抗平坦化层是由异于该第一介电层的材料所制成。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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