[发明专利]保偏光纤轴向、光纤轴线与研磨方向之间夹角的测量方法

摘要

本发明涉及光纤技术领域，具体公开了一种保偏光纤轴向、光纤轴线与研磨方向之间夹角的测量方法，该方法利用光纤发光的角度与位置测量上述参数，可以一次性测量光纤轴向、光纤轴线(双纤光纤)和研磨角之间的相对角度关系，以及研磨角和光纤间距，可以清楚的得到上述角度与位置的相对关系，其采用光学成像的方法，用透镜将角度转化为位置并放大，最低可以保证测量精度在0.1°以内。

主权项

1.一种保偏光纤轴向、光纤轴线与研磨方向之间夹角的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1，搭建一测试台，该测试台上包括依次设置的光源、透镜及Beam Scan，待测光纤阵列与Beam Scan均置于一可3维移动的马达上；步骤S2，将待测光纤阵列装在测试台上，使光纤阵列的纤芯连线与水平面平行，且将待测光纤阵列连接到光源的光开关上；步骤S3，以第一根光纤为基准，调节Beam Scan前后位置，将光纤放置在透镜焦点位置；步骤S4，将光切换到第二根光纤，马达X方向移动距离为两根光纤的纤芯间距，记录光点在Beam Scan上的位置，旋转光纤并切换两根光纤，使它们的出射光在Beam Scan的Y方向上一致；步骤S5，切换每一根光纤，将每根光纤调到透镜焦点，记录每根光纤对应的马达位置，根据所有光纤的位置优化旋转角度，使所有光纤在同一水平面上，将此时光纤角度马达坐标设为角度参考点，同时根据位置信息计算每根光纤之间的间距，分别记为d1,d2……dn；步骤S6，将第一根光纤移动到透镜焦点，移动Beam Scan并调节光纤坐标，使出射光水平，记录此时Beam Scan坐标X1、Y1，则有θ1x＝(X1‑X0)/2f，θ1Y＝(Y1‑Y0)/2f；其中θ1x与θ1Y为第一根光纤的研磨角在X与Y方向上和标准光纤的角度差，f为透镜焦距，X0、Y0为标准坐标；步骤S7，按照上述方法测量每一根光纤，得到θ2x……θnx,θ2y……θny，计算各个光纤的角度平均值θx＝(θ1x+θ2x+……θnx),θy＝(θ1y+θ2y+……θny)，θx与θy为此光纤阵列的研磨角在X与Y方向上和标准光纤的角度差；步骤S8，将光开关切换到保偏光纤的通道，旋转光纤将Beam Scan上的光功率调节至最大，记录角度马达的读数并减去参考值，记为Ф1，按照此方法测量其他光纤，记为Ф2……Фm。