[发明专利]校准测量系统和方法有效

专利信息
申请号: 201611048558.2 申请日: 2016-11-24
公开(公告)号: CN106802195B 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: A·K·达斯;C·L·佘 申请(专利权)人: 德克萨斯仪器股份有限公司
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 徐东升;赵蓉民
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请公开一种校准测量电路(30),校准测量电路具有第一节点(22N1)、第二节点(22N2)、耦合在第一节点与第二节点之间的电路元件(RRTD),以及参考电路元件(Rr)。校准测量电路还包括用于引导第一节点与第二节点之间的第一电流和第二电流并且将第一电流和第二电流引导至参考电路元件的电路系统(40)。校准测量电路还包括用于响应于第一和第二电流而测量(36,38)电路元件两端的电压的电路系统,以及响应于第一和第二电流而测量参考电路元件两端的电压的电路系统。校准因数还被确定用于响应于第一电压、第二电压和参考电路元件之间的关系而校准电路元件两端的测量电压。
搜索关键词: 校准 测量 系统 方法
【主权项】:
一种校准测量电路,其包括:第一节点;第二节点;电路元件,其耦合在所述第一节点与所述第二节点之间;用于引导所述第一节点与所述第二节点之间的第一电流的电路系统;用于响应于所述第一电流而测量所述电路元件两端的第一电压的电路系统;用于引导所述第一节点与所述第二节点之间的第二电流的电路系统;用于响应于所述第二电流而测量所述电路元件两端的第二电压的电路系统;参考电路元件;用于引导所述第一电流通过所述参考电路元件的电路系统;用于响应于所述第一电流而测量所述参考电路元件两端的第一电压的电路系统;用于引导所述第二电流通过所述参考电路元件的电路系统;用于响应于所述第二电流而测量所述参考电路元件两端的第二电压的电路系统;用于响应于所述第一电压、所述第二电压和所述参考电路元件之间的关系确定用于校准所述电路元件两端的测量电压的校准因数的电路系统。
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