[发明专利]一种原子气室表面应力测试装置及测试方法在审
申请号: | 201611048748.4 | 申请日: | 2016-11-25 |
公开(公告)号: | CN108106759A | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 秦杰;豆荣社;田晓倩 | 申请(专利权)人: | 北京自动化控制设备研究所 |
主分类号: | G01L1/24 | 分类号: | G01L1/24 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 高安娜 |
地址: | 100074 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于气室表面应力测试技术领域,具体公开了一种原子气室表面应力测试装置及测试方法。装置包括激光准直器、起偏器、原子气室、1/4波片、检偏器和CCD及镜头,还包括固定安装座、光学调整架和四个支杆。方法中首先将光源通过激光准直器、起偏器后形成两束线偏振光,再使两束光线产生π/2相位差,记录检偏器零位,利用CCD记录一张带有灰度值的气室应力分布图片,得到气室每一位置的灰度值与检偏器旋转角度的对应关系,拟合出每一位置气室灰度值最小的点所对应检偏器角度,最终得到气室应力值分布。消除了直接测量带来的而精度误差,精度提高。设计的原子气室表面应力测试装置采用笼式结构,方便光路对轴,且结构简单紧凑,稳定可靠。 | ||
搜索关键词: | 原子气室 检偏器 气室 表面应力 测试装置 灰度 激光准直器 起偏器 偏振光 固定安装座 光学调整架 测试 光线产生 精度误差 笼式结构 气室表面 应力测试 应力分布 直接测量 相位差 波片 光路 零位 拟合 束线 支杆 光源 紧凑 镜头 记录 图片 | ||
【主权项】:
1.一种原子气室表面应力测试装置,其特征在于:它包括激光准直器(1)、起偏器(2)、原子气室(3)、1/4波片(4)、检偏器(5)和CCD及镜头(6),还包括固定安装座、光学调整架和四个支杆,所述的激光准直器(1)、起偏器(2)、原子气室(3)、1/4波片(4)、检偏器(5)和CCD及镜头(6)从上到下安装沿共同的光轴安装在所述的支杆上,所述的四个支杆固定于上述六个光学器件的四周外侧,通过固定安装座和光学调整架安装。
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