[发明专利]一种微波暗室静区反射电平的数据处理方法在审
| 申请号： | 201611050394.7 | 申请日： | 2016-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN106771585A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 张丙伟;宋家科;金科 | 申请（专利权）人： | 南京长峰航天电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/16 | 分类号： | G01R23/16 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 210061 江苏省南京市高*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微波暗室静区反射电平的数据处理方法，所述处理方法的步骤包括采用矢量网络分析仪搭建的测量系统测得宽频段条件下参考方向场强Eref和待测方向场强Efreq，对每个频点均按照“角度‑场强值”的格式对测试数据进行存储；测量得到接收天线随角度变化的方向图电平；对数据进行处理，计算得到反射电平R。本发明的优点在于提出一种新的宽带数据测试方法，并提供一种微波暗室静区反射电平的数据处理方法，由测试获得的数据计算得到反射电平，从而解决现有技术中单频点测试效率低下，以及现有技术中没有对测试获得的数据如何进行处理以得到暗室静区的反射电平的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微波 暗室 反射 电平 数据处理 方法 | ||
【主权项】：
一种微波暗室静区反射电平的数据处理方法，其特征在于：所述处理方法的步骤包括：S1，采用矢量网络分析仪搭建的测量系统测得宽频段条件下参考方向场强Eref和待测方向场强Efreq，对每个频点均按照“角度‑场强值”的格式对测试数据进行存储；S2，测量得到接收天线随角度变化的方向图电平；S3，对数据进行处理，计算得到反射电平R。
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