[发明专利]用于超高频RFID标签的芯片阻抗和灵敏度的测试方法有效
| 申请号： | 201611051340.2 | 申请日： | 2016-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN108107339B | 公开（公告）日： | 2020-05-22 |
| 发明（设计）人： | 陈会军;许悦 | 申请（专利权）人： | 四川华大恒芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京元本知识产权代理事务所(普通合伙) 11308 | 代理人： | 熊传亚 |
| 地址： | 中国(四川)自由贸易试验区成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提出一种用于超高频RFID标签的芯片阻抗和灵敏度的测试方法，包括：获取所述标签中天线的天线阻抗值和天线增益；获取所述标签的标签灵敏度的测试值；通过遍历芯片阻抗值和芯片灵敏度来获得所述标签灵敏度的计算值；以及通过比较所述标签灵敏度的所述测试值与所述计算值，确定正确的芯片阻抗值和芯片灵敏度。通过本发明提出的测试方法，能够设计出性能更优异的天线和/或获得灵敏度更高的标签。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 超高频 rfid 标签 芯片 阻抗 灵敏度 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于超高频RFID标签的芯片阻抗和灵敏度的测试方法，包括：获取所述标签中天线的天线阻抗值和天线增益；获取所述标签的标签灵敏度的测试值；通过遍历芯片阻抗值和芯片灵敏度来获得所述标签灵敏度的计算值；以及通过比较所述标签灵敏度的所述测试值与所述计算值，确定正确的芯片阻抗值和芯片灵敏度。
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