[发明专利]DDR控制参数的优化方法及装置

摘要

本发明实施例提供一种DDR控制参数的优化方法及装置，其中，该方法根据DDR读写过程受到控制参数影响的这个特性，通过预先在DDR中定义一个验证参数，然后再在控制参数的不同取值下，对验证参数的值进行读写，并在验证参数的值发生变化即读写过程发生错误时获取控制参数的多个取值，从而根据该些取值即可获得DDR读写正常时，控制参数的取值范围。进而将该取值范围中的最优值配置给控制参数即可实现控制参数的优化，从而有效的解决了DDR控制参数的经验值不够准确，而现有技术又无法对其进行优化配置的问题。

主权项

1.一种DDR控制参数的优化方法，其特征在于，所述方法包括：在DDR中定义一个验证参数，并为所述验证参数赋值；从所述DDR中读取DDR控制参数的值；根据所述DDR控制参数的值和预设算法，重新配置所述DDR控制参数的值；从所述DDR中读取所述验证参数的值，并判断所述验证参数的值是否改变；若否，则执行根据所述DDR控制参数的值和预设算法，重新配置所述DDR控制参数的值的步骤；若是，则保存所述重新配置后的DDR控制参数的值，并重新启动所述DDR，执行所述从DDR中读取DDR控制参数的值的步骤，直至预设次数后停止；根据所述预设次数后保存的DDR控制参数的各个值，确定所述DDR控制参数的取值范围；根据所述DDR控制参数的取值范围，确定所述DDR控制参数的最优值。