[发明专利]高通量膜材料力学测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201611058590.9 申请日: 2016-11-28
公开(公告)号: CN106596277B 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 张东升;张水强;刘斌;张统一 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01N3/12 分类号: G01N3/12;G01N3/06
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 王闯
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及高一种通量膜材料力学测试装置及方法。本装置包括电子散斑干涉离面位移测量系统、密封舱体、气压泵和高灵敏度气压传感器,高通量膜材料测试试样安装在密封舱体的开口处,形成完全密封的密闭舱体,气压泵用来控制舱体内的气压P,通过高灵敏度气压传感器记录并反馈舱体内的实时压力;试验时将电子散斑干涉离面位移测量系统和密封舱体固定在光学隔震台上,并让密封舱体上的试样表面位于电子散斑干涉离面位移测量系统的视场范围内。本方法通过根据均布压力、膜中心点离面位移和其它力学参数之间的函数关系,可分别推导出多个薄膜材料各自的弹性模量等力学参数,从而实现通过一次力学实验,获得多种薄膜材料力学参数的目的。
搜索关键词: 通量 材料力学 测试 装置 方法
【主权项】:
一种高通量膜材料力学测试装置,包括电子散斑干涉离面位移测量系统、密封舱体(5)、气压泵(6)和高灵敏度气压传感器(11),其特征在于:高通量膜材料测试试样(9)安装在密封舱体(5)的开口处,形成完全密封的密闭舱体,气压泵(6)用来控制舱体内的气压P,通过高灵敏度气压传感器(11)记录并反馈舱体内的实时压力;试验时将电子散斑干涉离面位移测量系统和密封舱体(5)固定在光学隔震台上,并让密封舱体(5)上的试样(9)表面位于电子散斑干涉离面位移测量系统的视场范围内。
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