[发明专利]显示面板测试系统以及显示面板的测试方法

摘要

本发明提供一种显示面板测试系统以及显示面板的测试方法，该系统包括转接板、压头、以及显示面板，所述显示面板中增设有第一对位点和以及与第一对位点电性连接的第二对位点，压头上增设有与第一对位点对应的第一对位探针和与第二对位点对应的第二对位探针，转接板内设有薄膜晶体管用于控制测试信号的传输，当第一对位点和第二对位点对位准确时，转接板内的薄膜晶体管将会开启，测试信号才能传输到显示面板中，而第一对位点和第二对位点对位不准时，转接板内的薄膜晶体管将保持截止，测试信号不会传输到显示面板中，能够避免显示面板点亮测试中因压头对位不准导致的短路问题，减少对位时间，提高测试效率。

主权项

1.一种显示面板测试系统，其特征在于，包括：显示面板(1)、对应所述显示面板(1)设置的压头(2)、以及与所述压头电性连接的转接板(3)；所述压头(2)上依次排列的有一第一对位探针(21)、数个测试信号探针(23)、一第二对位探针(22)；所述显示面板(1)上设有对应所述第一对位探针(21)设置的第一对位点(TP1)、对应所述第二对位探针(22)设置的第二对位点(TP2)、以及数个与所述测试信号探针(23)一一对应的测试点(CT)，所述第一对位点(TP1)与所述第二对位点(TP2)设于所述显示面板(1)上的走线(11)电性连接；所述转接板(3)内设有信号转接电路，所述信号转接电路包括：一电阻(R)、以及数个薄膜晶体管(T)，所述测试信号探针(23)的数量与薄膜晶体管(T)的数量相同；所述电阻(R)一端接入薄膜晶体管关闭信号，另一端经由第一节点(A)电性连接第一对位探针(21)；所述数个薄膜晶体管(T)的栅极均电性连接第一节点(A)，源极分别接入一测试信号，漏极分别电性连接一测试信号探针(23)；所述第二对位探针(22)经由转接板(3)接入薄膜晶体管开启信号；所述薄膜晶体管开启信号与所述薄膜晶体管关闭信号的电位相反；测试时，将所述压头(2)压合到显示面板(1)上，使得所述第一对位探针(21)与所述第一对位点(TP1)对位接触，第二对位探针(22)与所述第二对位点(TP2)对位接触，数个测试信号探针(23)分别与数个测试点(CT)一一对位接触，所述薄膜晶体管开启信号经由走线(11)传输到第一节点(A)，各个薄膜晶体管(T)均打开，测试信号写入显示面板(1)显示测试画面。