[发明专利]一种成像光谱仪的杂光抑制方法

摘要

本发明公开了一种成像光谱仪的杂光抑制方法。该方法针对基于集成滤光片分光且采用分色片进行谱段分离的成像光谱仪。分色片在系统视场光阑附近，分A、B区镀分色膜，入射光谱覆盖λa1～λb4。λab是双通道分界波长；λac、λbc分别是反射表面和透射表面薄膜分界线对应的波长。A区域λa1～λa3反射，λb1～λb3透射，反射光谱下降沿在λac之后，透射光谱上升沿在λab之前；B区域λa2～λa4反射，λb2～λb4透射，反射光谱下降沿在λab之后，透射光谱上升沿在λbc之前。经集成滤光片后，反射通道为λa1～λab，透射通道为λab～λb4。本发明对于集成滤光片分光的成像光谱仪，解决了普通分色片过渡区有带内杂光且光学效率低的问题，也降低了分光薄膜的研制难度。

主权项

1.一种成像光谱仪的杂光抑制方法，所述的成像光谱仪为集成滤光片分光且采用分色片进行谱段分离的成像光谱仪,其分色片在成像光谱仪的视场光阑附近，其特征在于方法如下：在所述的分色片上分A、B两个区域镀分色膜，反射表面的薄膜分界线对应系统反射通道的波段λac，透射表面的薄膜分界线对应系统透射通道的波段λbc；λab是系统反射通道和透射通道的分界波长；分色片入射光谱覆盖λa1～λb4；A区域λa1～λa3反射，λb1～λb3透射，其中λa1、λa3是A区反射上升沿及下降沿的90％效率处波长，λb1、λb3是A区透射上升沿及下降沿90％效率处波长；反射光谱下降沿λa3在λac之后，透射光谱上升沿λb1在λab之前；B区域λa2～λa4反射，λb2～λb4透射，其中λa2、λa4是B区反射上升沿及下降沿90％效率处波长，λb2、λb4是B区透射上升沿及下降沿90％效率处波长；反射光谱下降沿λa4在λab之后，透射光谱上升沿λb2在λbc之前；入射到反射通道集成滤光片的谱段覆盖λa1～λa4，入射到透射通道集成滤光片的谱段覆盖λb1～λb4；经集成滤光片之后，反射通道的光谱为λa1～λab，透射波段的光谱为λab～λb4；对于反射短波透射长波的分色片，λa1、λa2、λac、λa3、λab、λa4波长依次变长,λb1、λab、λb2、λbc、λb3、λb4波长依次变长。