[发明专利]射束硬化校正方法及装置有效

专利信息
申请号: 201611061944.5 申请日: 2016-11-25
公开(公告)号: CN108109183B 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: 徐晗;马丁;李明 申请(专利权)人: 上海东软医疗科技有限公司
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00;A61B6/03
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 陈蕾
地址: 200241 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请提出一种射束硬化校正方法及装置,该方法包括:使用多能射线扫描处于第一状态的模体获得第一组投影数据,以及扫描处于第二状态的模体获得第二组投影数据;根据第一组投影数据和第二组投影数据,确定多能射线穿透处于第二状态的模体时的X射线衰减值以及贯穿厚度;根据该衰减值及贯穿厚度,获得各贯穿厚度对应的衰减系数,得到贯穿厚度与衰减系数的对应关系;当锥形束CT设备使用多能射线对被检体进行扫描时,利用贯穿厚度与衰减系数的对应关系,对扫描得到的投影数据进行校正。本申请技术方案,可以将多能射线等效成单能射线,利用等效后的贯穿厚度与衰减系数的对应关系进行图像重建,从而达到硬化校正的目的,提高重建图像的图像质量。
搜索关键词: 硬化 校正 方法 装置
【主权项】:
1.一种射束硬化校正方法,其特征在于,所述方法应用于锥形束CT设备,所述方法包括:使用多能射线扫描处于第一状态的模体获得第一组投影数据,以及扫描处于第二状态的模体获得第二组投影数据,其中,所述模体为中空的三棱柱状模体,所述第一状态为未注入液体的状态,所述第二状态为已注满预设密度的液体的状态;根据所述第一组投影数据和第二组投影数据,确定所述多能射线穿透所述处于第二状态的模体时的X射线衰减值以及贯穿厚度;根据所确定的X射线衰减值及贯穿厚度,获得所述多能射线穿透所述处于第二状态的模体时各贯穿厚度对应的衰减系数,得到贯穿厚度与衰减系数的对应关系;当所述锥形束CT设备使用所述多能射线对被检体进行扫描时,利用所述贯穿厚度与衰减系数的对应关系,对扫描得到的所述被检体的投影数据进行校正。
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