[发明专利]一种半导体器件及制备方法、电子装置有效
申请号: | 201611063937.9 | 申请日: | 2016-11-28 |
公开(公告)号: | CN108122933B | 公开(公告)日: | 2021-04-23 |
发明(设计)人: | 陈福成 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/20 |
代理公司: | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人: | 高伟;冯永贞 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种半导体器件及制备方法、电子装置。所述方法包括:提供第一晶圆,所述第一晶圆的表面形成有具有开口的表面材料层,在所述开口表面以及所述表面材料层表面形成有第一阻挡层和接合材料的种子层;在所述开口中依次形成第一接合材料层和第一焊料层至所述表面材料层的顶部;去除所述表面材料层表面上的所述第一阻挡层和接合材料的种子层;提供第二晶圆并与所述第一晶圆相接合。在所述方法中通过在接合区域中形成接合材料层和焊料层(Solder layer),其中采用焊料层(Solder layer)可以减小接合材料层(例如Cu)表面的粗糙度要求,减少Cu平坦化的要求,降低键合温度和退火温度,通过将焊料层作为接合材料,可以降低键合工艺难度,提高工艺的良率。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体器件 制备 方法 电子 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体器件的制备方法,其特征在于,所述方法包括:提供第一晶圆,在所述第一晶圆的表面形成有具有开口的表面材料层,在所述开口的表面以及所述表面材料层上形成有第一阻挡层和接合材料的种子层;在所述开口中依次形成第一接合材料层和第一焊料层至所述表面材料层的顶部;去除所述表面材料层表面上的所述第一阻挡层和所述种子层;提供第二晶圆并与所述第一晶圆相接合。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的