[发明专利]一种测量烟尘中颗粒的粒径和质量浓度的装置及方法有效
| 申请号： | 201611066419.2 | 申请日： | 2016-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN106556556B | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 刘小伟;陈栋;徐明厚;崔江;韩金克;江盟 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/06 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 朱仁玲 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： |
本发明提供了一种同时测量烟尘中颗粒的粒径和质量浓度的装置及方法。所述装置包括激光光源、第一光强探测器、第二光强探测器以及计算中枢；所述激光光源用于向烟尘发出单色激光，并形成散射光；所述第一光强探测器的探测方向与单色激光出射方向的夹角 |
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| 搜索关键词： | 一种 测量 烟尘 颗粒 粒径 质量 浓度 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种同时测量烟尘中颗粒的粒径和质量浓度的装置，其特征在于，包括激光光源、第一光强探测器、第二光强探测器以及计算中枢；所述激光光源用于向光散射测量区的烟尘发出单色激光，使得烟尘中颗粒产生散射光；所述第一光强探测器的探测方向面向光散射测量区，且与单色激光出射方向的夹角![]()
为5°～60°，所述第一光强探测器用于获得第一散射光强![]()
所述第二光强探测器的探测方向面向光散射测量区，且与单色激光出射方向的夹角θ在θ1～θN之间变化，所述第二光强探测器用于获得第二散射光强Iθ；其中，θ1为5°～20°，θN为160°～175°；所述第一光强探测器的输出端连接计算中枢的第一输入端；所述第二光强探测器的输出端连接计算中枢的第二输入端；所述计算中枢用于根据第一散射光强![]()
以及第二散射光强Iθ，获得烟尘中颗粒的粒径和质量浓度。
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