[发明专利]一种红外摆扫相机在轨图像均匀性校正方法有效
申请号: | 201611066858.3 | 申请日: | 2016-11-25 |
公开(公告)号: | CN106600646B | 公开(公告)日: | 2019-05-24 |
发明(设计)人: | 曹世翔;李岩;晋利兵;聂云松;何红艳;江澄;周楠;张炳先;李方琦 | 申请(专利权)人: | 北京空间机电研究所 |
主分类号: | G06T7/80 | 分类号: | G06T7/80;G01J5/00 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 臧春喜 |
地址: | 100076 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种红外摆扫相机在轨图像均匀性校正方法,针对卫星入轨运行特点,获取星上黑体定标数据及多景地物图像后,以星上定标得到的相对辐射及绝对辐射校正系数为主,采用在轨统计的方法修正摆扫相机像元间存在的响应差异,代替传统均匀场图像修正。该校正方法不要求覆盖足够大的均匀地物进行高低温成像,同时对成像气候条件具有很好的鲁棒性,克服了在轨初期快速参数调整与传统校正方法效率低的难题,且取得的均匀性处理效果更好。本发明适用于各种红外摆扫相机,亦可推广到线阵推扫红外成像,满足遥感产品生产及应用需求。 | ||
搜索关键词: | 一种 红外 相机 图像 均匀 校正 方法 | ||
【主权项】:
1.一种红外摆扫相机在轨图像均匀性校正方法,其特征在于,包括如下步骤:第一步,根据星上高端温度TH和低端温度TL以及对应温度下的黑体成像数据BH和BL,从相同成像条件下获取的图像中选择符合修正用的DN值低端原始图像IL和DN值高端原始图像IH;IL的直方图峰值应在BL的灰度均值±20%之间,IH的直方图峰值应在BH灰度均值±20%之间;第二步,根据黑体成像数据BH和BL,按两点法计算对应的星上相对辐射校正系数KRi、CRi和绝对辐射校正系数KAi、CAi、ΔDNAi,若DN值低端原始图像IL和DN值高端原始图像IH同轨,则共用一组系数,否则需计算各自对应的系数;第三步,利用星上定标系数,对DN值低端原始图像IL和DN值高端原始图像IH进行一次校正,得到DN值图像ILDN和IHDN,按单扫的像元个数n及摆扫方向分别对DN值图像ILDN和IHDN进行叠加,形成景内统计数据块ILMDN和IHMDN;同理得到一次校正辐亮度图像ILLe和IHLe,并得到叠加数据块ILMLe和IHMLe;第四步,对叠加数据块ILMLe和IHMLe分别按两点法计算DN值数据的均匀性修正系数
及辐亮度数据的均匀性修正系数
第五步,对典型温度下获取的包含均匀景物的原始图像G,计算对应轨的星上相对辐射校正系数K′Ri、C′Ri和绝对辐射校正系数K′Ai、C′Ai及ΔDN′Ai;利用DN值数据的均匀性修正系数
及辐亮度数据的均匀性修正系数
计算最终用于DN值产品DNG的校正系数KRFi、CRFi和辐亮度产品LeG的校正系数KAFi、CAFi和ΔDNAFi,并生成相应的产品;第六步,对DN值产品DNG和辐亮度产品LeG进行均匀性检验,若不满足要求,则重新回到第一步并选择其他图像生成修正系数;第七步,若摆扫相机正反扫均成像,则第三步至第六步需按扫的方向独立计算。
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