[发明专利]服从二项分布的计件值工序能力指数评价方法

摘要

本发明公开了一种服从二项分布的计件值工序能力指数评价方法，主要解决现有技术所得工序能力指数结果明显偏高的问题，其实现步骤包括：1.连续采集多批产品的不合格品率作为样本数据；2.根据样本数据计算不合格品率的均值；3.根据不合格品率均值，获得每批不合格品数的上规范限，进而得到批次成品率；4.根据成品率计算得到工序能力指数CP；5.判断工序能力指数CP是否满足要求。本发明工序能力指数CP计算精确，所得工序能力指数CP与相应工艺成品率的对应关系和计量值工序能力指数与相应工艺成品率的对应关系完全相同，不同工序之间只需对比工序能力指数的大小就能判断工艺成品率的高低，可用于生产线上生产质量的评价。

主权项

一种服从二项分布的计件值工序能力指数评价方法，包括步骤如下：(1)采集样本：连续采集生产过程中以不合格品率为参数的m批样本，其中m≥20，统计每批样本中的不合格品率pi＝Di/n，记录在表格中，其中Di为第i批产品加工中的不合格品数，n为每批加工的样本量，pi为第i批加工中的不合格品率，i＝1，2,…,m；(2)获得批次成品率：2a)根据每批产品的不合格品率，获得不合格品率的平均值：2b)根据不合格品率的上规范限TU和每批加工的样本量，获得每批不合格品数的上规范限：其中，符号表示向下取整，即表示如果TU×n不是整数，需舍去小数位数字取整；2c)根据不合格品率的平均值和不合格品数上规范限，获得批次成品率η：η=Σk=0USLCnk(p‾)k(1-p‾)n-k;]]>其中(3)计算工序能力指数：3a)根据批次成品率η，利用设计水平P与批次成品率η关系式：η＝Φ(1.5+P)‑Φ(1.5‑P)，获得设计水平P，其中Φ(·)表示标准正态累计分布函数；3b)根据设计水平P，获得工序能力指数：(4)将工序能力指数CPU与该工序的质量要求规定值CQ进行比较，判断是否继续进行生产：若CPU≥CQ，则可继续进行生产；若CPU＜CQ，则需要停产并检查工序能力不足的原因。