[发明专利]半导体装置的制造装置有效

专利信息
申请号: 201611069217.3 申请日: 2016-11-28
公开(公告)号: CN107045988B 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: 樱井大辅;浜平大 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/67;H01L21/68;H01L21/683
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王亚爱
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种即使是外形较大的半导体元件也能够以非常高的精度短时间地安装于基板的半导体装置的安装装置。利用配置于安装头侧面的识别摄像机(11)对由安装头(1)吸附固定的半导体元件(2)进行观察,并进行位置匹配。在安装头(1)的内部,在与识别摄像机(11)对置的位置配置光学部件(10),将光路至少分支成2个路径,并且在与至少2处的半导体元件(2)的识别标记(3)垂直地反射光的位置配置光学部件(10)。将全部光学部件(10)固定于同一平面(9a)的基底(9)。
搜索关键词: 半导体 装置 制造
【主权项】:
1.一种半导体装置的制造装置,使用安装头将形成了位置匹配用的多个识别标记的被安装构件隔着接合层安装于基板,该半导体装置的制造装置具备:吸附保持构件,与形成了所述识别标记的面相接触地对所述被安装构件进行吸附保持;第1加热装置,对由所述吸附保持构件吸附保持的所述被安装构件进行加热;图像识别装置,在所述安装头的外侧同时识别所述被安装构件的所述识别标记并取得图像识别的信息;多个光学部件,在所述安装头的内侧将所吸附保持的所述被安装构件的所述多个识别标记的图像信息同时导入到所述图像识别装置;以及位置算出部,基于由所述图像识别装置取得的所述图像识别的信息来算出所述被安装构件的位置,所述多个光学部件全都被固定于1个基底上的同一平面,若将所述被安装构件的线膨胀系数设为α1,将所述基底的线膨胀系数设为α2,将所述被安装构件的温度设为T1,将所述基底的温度设为T2,将室温设为RT,则0.5≤α2×(T2‑RT)/{α1×(T1‑RT)}≤2.0。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下知识产权经营株式会社,未经松下知识产权经营株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611069217.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top