[发明专利]一种J‑TEXT托卡马克装置的硬X射线通量检测系统在审

专利信息
申请号: 201611069666.8 申请日: 2016-11-29
公开(公告)号: CN106772540A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 陈忠勇;高海龙;黄都伟;徐涛 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01T1/208 分类号: G01T1/208
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)42224 代理人: 方可
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种J‑TEXT托卡马克装置的硬X射线通量检测系统,包括硬X射线探测模块、检波电路和AD数据采集模块;J‑TEXT托卡马克装置运行破裂时会产生大量高能高速逃逸电子,轰击该装置的第一壁材料,对材料造成直接损伤;所以对逃逸电子密度监测变得尤为重要;逃逸电子损失到第一壁时与材料发生厚靶韧致辐射,产生高能硬X射线,能量高达0.5‑10MeV;撞击器壁的逃逸电子越多,产生的硬X射线辐射能量越强,探测器输出脉冲电压越高;硬X射线光信号经硬X射线探测模块转换为脉冲电压信号,再由检波电路检测到脉冲信号峰值信号,经过数据采集卡传输到电脑终端进行存储,进而可确定辐射强度,因为辐射强度与脉冲信号幅值成正比,可得到逃逸电子分布情况。
搜索关键词: 一种 text 马克 装置 射线 通量 检测 系统
【主权项】:
一种J‑TEXT托卡马克装置的硬X射线通量检测系统,其特征在于,包括依次连接的硬X射线探测模块、检波电路和AD数据采集模块;所述硬X射线探测模块用于探测能量为0.5~10MeV的硬X射线并将其转换成电压脉冲信号;所述检波电路用于获取电压脉冲信号的峰值包络电压;所述AD数据采集卡用于采集所述峰值包络电压;通过外部快速离散频谱分析仪根据所述信号峰值包络电压得到能谱分布,获得硬X射线通量。
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