[发明专利]一种测量光源相对强度噪声功率谱密度的方法有效

专利信息
申请号: 201611072319.0 申请日: 2016-11-29
公开(公告)号: CN106706124B 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 陈杏藩;张海生;刘承;舒晓武 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01J1/16 分类号: G01J1/16
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司33200 代理人: 林超
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种测量光源相对强度噪声功率谱密度的方法。通过模数转换器对探测器信号进行采样,计算获得输出信号标准差;采集光电探测器的输出电压,计算获得光电探测器的输入光功率;调节可调光功率衰减器,使得待测光源输出的光信号衰减为不同的光功率,采集获得一系列数据,进行二次多项式拟合,利用拟合系数计算得到光源相对强度噪声功率谱密度。本发明方法能有效避免其他白噪声源对测量结果的影响,可以准确地测量光源相对强度噪声功率谱密度,为光源设计和干涉仪设计提供测量工具。
搜索关键词: 一种 测量 光源 相对 强度 噪声 功率 密度 方法
【主权项】:
一种测量光源相对强度噪声功率谱密度的方法,其特征在于包括以下步骤:1)采用主要由待测光源、可调光功率衰减器、光电探测器、信号调理电路、模数转换器和上位机依次连接组成的测量系统,通过模数转换器对探测器信号进行采样,根据模数转换器的输出信号计算获得输出信号标准差;并同时采集光电探测器的输出电压,根据光电探测器的输出电压计算获得光电探测器的输入光功率;2)调节可调光功率衰减器,使得待测光源输出的光信号衰减为不同的光功率,在不同光功率下获得一系列的模数转换器的输出信号标准差和光电探测器的输入光功率;3)根据光源相对强度噪声功率和到达探测器的光功率成正比的关系,对输出信号标准差和输入光功率进行二次多项式拟合,利用拟合系数计算得到光源相对强度噪声功率谱密度。
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