[发明专利]内部带有模数转换接口芯片的量产测试模块及方法

摘要

本发明公开一种内部带有模数转换接口芯片的量产测试模块及方法，通过芯片内置的量产测试模块，在量产测试模式下，使芯片模拟部分的测试和数字部分的测试分开。数字信号源的测试激励直接通过数据总线直接提供，使数字部分的测试激励不依赖于模拟部分，大大提高了测试效率。数字部分的测试激励，通过数据总线直接提供的优点有：(1)测试设备的通道数，不受限于测试设备的精准电源数量，可大大增加多芯片同测的数量。(2)测试激励由数据总线直接提供，不易受外界的干扰；(3)可省去模拟信号稳定与模数转换的时间，缩短测试时间。

主权项

一种内部带有模数转换接口芯片的量产测试模块，所述芯片包括模拟功能模块、数字功能模块及数据总线，模拟功能模块具有n个模拟量输入端及n个模数转换信号输出端，数字功能模块具有n个数模接口信号输入端及一个数字测试信号输出端，数据总线包括数据线和时钟信号线；其特征在于：所述量产测试模块集成于芯片内，包括寄存器控制单元、多通道数据选择器mux_sel及n个二通道数据选择器mux；寄存器控制单元接收数据总线的数据，产生使能信号cp_en、测试信号cp_test_1、……cp_test_n及选择信号cp_sel；各二通道数据选择器mux的一个输入端连接芯片模拟功能模块的相应模数转换信号输出端，另一个输入端连接寄存器控制单元的测试信号cp_test_1、……cp_test_n，控制端连接寄存器控制单元的使能信号cp_en，输出端连接芯片数字功能模块的相应数模接口信号输入端；多通道数据选择器mux_sel的输入端连接各二通道数据选择器mux的输出端及芯片数字功能模块的数字测试信号输出端，控制端连接寄存器控制单元的选择信号cp_sel，输出端作为量产测试信号输出端。