[发明专利]瞬态荧光测量材料热扩散率的方法及装置有效
申请号: | 201611073760.0 | 申请日: | 2016-11-29 |
公开(公告)号: | CN106596626B | 公开(公告)日: | 2019-04-09 |
发明(设计)人: | 岳亚楠;吴昊;高建树;熊扬恒;曾洪涛 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 薛玲 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种瞬态荧光测量材料热扩散率的方法及装置,该方法包括步骤一、利用调制脉冲激光作为样品的加热光源和荧光信号的激发光源,对样品表面进行照射;二、采集样品受激发后反馈出的荧光信号,将信号强度与样品的荧光强度—温度曲线比对,得到样品温度信息;三、多次改变脉冲激光的脉冲宽度,得到不同瞬态加热周期下样品的瞬态温升;四、根据待测样品的导热模型温度场分析解表达式,用多组测量数据带入拟合得到材料的热扩散率。基于该方法设计了对应的测量装置平台。本发明测量材料热扩散率时,不易损坏样品,测量误差小,效率高。 | ||
搜索关键词: | 瞬态 荧光 测量 材料 扩散 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种瞬态荧光测量材料热扩散率的方法,其特征在于:包括如下步骤:一、利用调制脉冲激光作为样品的加热光源和荧光信号的激发光源,对样品表面进行照射;二、采集样品受激发后反馈出的荧光信号,将信号强度与样品的荧光强度—温度曲线比对,得到样品温度信息;三、多次改变脉冲激光的脉冲宽度,得到不同瞬态加热周期下样品的瞬态温升;四、根据待测样品的导热模型温度场分析解,将样品的瞬态温升与最大温升做比值,消去表达式中激光的加热功率和材料的热导率,得到以材料热扩散率α为未知系数的方程式,通过若干组数据带入,拟合得到材料的热扩散率。
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