[发明专利]瞬态荧光测量材料热扩散率的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201611073760.0 申请日: 2016-11-29
公开(公告)号: CN106596626B 公开(公告)日: 2019-04-09
发明(设计)人: 岳亚楠;吴昊;高建树;熊扬恒;曾洪涛 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 薛玲
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种瞬态荧光测量材料热扩散率的方法及装置,该方法包括步骤一、利用调制脉冲激光作为样品的加热光源和荧光信号的激发光源,对样品表面进行照射;二、采集样品受激发后反馈出的荧光信号,将信号强度与样品的荧光强度—温度曲线比对,得到样品温度信息;三、多次改变脉冲激光的脉冲宽度,得到不同瞬态加热周期下样品的瞬态温升;四、根据待测样品的导热模型温度场分析解表达式,用多组测量数据带入拟合得到材料的热扩散率。基于该方法设计了对应的测量装置平台。本发明测量材料热扩散率时,不易损坏样品,测量误差小,效率高。
搜索关键词: 瞬态 荧光 测量 材料 扩散 方法 装置
【主权项】:
1.一种瞬态荧光测量材料热扩散率的方法,其特征在于:包括如下步骤:一、利用调制脉冲激光作为样品的加热光源和荧光信号的激发光源,对样品表面进行照射;二、采集样品受激发后反馈出的荧光信号,将信号强度与样品的荧光强度—温度曲线比对,得到样品温度信息;三、多次改变脉冲激光的脉冲宽度,得到不同瞬态加热周期下样品的瞬态温升;四、根据待测样品的导热模型温度场分析解,将样品的瞬态温升与最大温升做比值,消去表达式中激光的加热功率和材料的热导率,得到以材料热扩散率α为未知系数的方程式,通过若干组数据带入,拟合得到材料的热扩散率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉大学,未经武汉大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611073760.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top