[发明专利]一种外部存储器校验位的可观测性方法有效
| 申请号： | 201611073972.9 | 申请日： | 2016-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN106528359B | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 苏天红;文治平;陈雷;彭和平;于立新;庄伟 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G11C11/413 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 范晓毅 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种外部存储器校验位的可观测性方法，包括：从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位；其中，所述待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域；将所述第一校验位保存在本地；调用观测程序，读取保存在本地的第一校验位，将所述第一校验位作为可观测校验位输出；其中，所述观测程序位于所述外部存储器内、所述观测有效区域之外。通过本发明避免了观测程序本身携带的校验位对待观测存储对象对应的第一校验位的覆盖，实现了对校验位的实时观测，降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 外部 存储器 校验位 观测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种外部存储器校验位的可观测性方法，其特征在于，所述方法包括：从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位；其中，所述待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域；观测有效区域是指数据对象对应的校验位可以被保存观测；将所述第一校验位保存在本地；调用观测程序，读取保存在本地的第一校验位，将所述第一校验位作为可观测校验位输出；其中，所述观测程序位于所述外部存储器内、所述观测有效区域之外。
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