[发明专利]一种高加速冲击下电子零组件的测试方法及测试系统在审
| 申请号： | 201611075685.1 | 申请日： | 2016-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN106405303A | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 占雯;叶志高 | 申请（专利权）人： | 环旭电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04;G01M7/08 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高加速冲击下电子零组件的测试方法，包括以下步骤S10、将偶数个电子零组件样品紧锁在正立方体测试治具上的样品放置槽内；S20、将测试治具的下表面紧贴于冲击台的上表面，并将测试治具锁紧在所述冲击台上；S30、使冲击台、紧锁在冲击台上的测试治具、以及紧锁在测试治具上的电子零组件样品，同时从预设的掉落高度处沿升降轨道由静止向下掉落，并撞击于测试平台上的测试底座；通过测试治具向电子零组件样品传递掉落撞击时产生的高加速冲击；S50、检测完成高加速冲击后的每个电子零组件样品是否出现故障或损坏。本发明中可将测试治具受到的高加速冲击力均匀传递到电子零组件上，减少测试治具的衰减和变形。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 加速 冲击 电子 零组件 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种高加速冲击下电子零组件的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S10、将偶数个电子零组件样品紧锁在正立方体测试治具上的样品放置槽内，偶数个电子零组件样品关于所述测试治具的中心呈中心对称设置；S20、将所述测试治具的下表面紧贴于冲击台的上表面，并将所述测试治具锁紧在所述冲击台上，所述测试治具的中心轴重合于所述冲击台的中心轴；S30、使所述冲击台、紧锁在所述冲击台上的测试治具、以及紧锁在所述测试治具上的电子零组件样品，同时从预设的掉落高度处沿升降轨道由静止向下掉落，并撞击于所述测试平台上的测试底座；通过所述测试治具向所述电子零组件样品传递掉落撞击时产生的高加速冲击；S50、检测完成高加速冲击后的每个电子零组件样品是否出现故障或损坏。
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