[发明专利]一种通过优化偏振器方位角提高磁畴成像质量的方法有效
| 申请号： | 201611076545.6 | 申请日： | 2016-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN107525769B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 连洁;李蒙蒙;杨修伦;王晓;宋浩男;石玉君;刘宇翔 | 申请（专利权）人： | 山东大学 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21 |
| 代理公司： | 济南泉城专利商标事务所 37218 | 代理人： | 李桂存 |
| 地址： | 250100 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种通过优化偏振器方位角提高磁畴成像质量的方法，所述方法通过建立磁畴成像效果（包括信噪比和对比度）与偏振器方位角组合之间的数学模型，对磁畴成像效果与偏振器方位角组合之间的关系进行模拟分析，从而找到最佳的偏振期方位角，提高磁畴成像的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通过 优化 偏振 方位角 提高 成像 质量 方法 | ||
【主权项】：
一种通过优化偏振器方位角提高磁畴成像质量的方法，其特征在于：包括以下步骤：S01、建立偏振器方位角与磁畴成像效果的评价指标之间的数学模型，磁畴成像效果的评价指标包括图像对比度C和信噪比r，偏振器方位角、与图像对比度C、信噪比r的的关系表达式为：（1）（2）其中参数Bi为磁致反射系数的实部与虚部的组合，其数值可以通过磁光椭偏实验测量得到，参数fi为偏振器方位角正余弦值的组合，i为探测器接收到的光电流，iD为探测器的暗噪声，iS为散粒噪声， VJ为热噪声；再根据C、r与偏振器方位角的关系表达式，建立磁畴成像效果的评价参数y，y与偏振器方位角的关系为：(3)，其中Cmax，rmax分别为对比度和信噪比的最优值；S02、根据公式 3对评价参数y与偏振器方位角的组合进行模拟，结合由公式1、2得到的对比度C、信噪比r与偏振器方位角的关系，得到具有较好成像效果的偏振器方位角的设置方式。
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