[发明专利]一种监控CIS像素单元相关电容的电路及方法有效
| 申请号： | 201611076611.X | 申请日： | 2016-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN106534727B | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 葛雯 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/372 | 分类号： | H04N5/372;H01L27/146 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 智云 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种监控CIS像素单元相关电容的电路，该电路包括m×n个4T CIS单元组成的阵列，将4T CIS单元的各引脚并联引出，通过控制作为控制开关的传输控制信号TX G，实现测量PD等效电容以及FD等效电容，通过本发明，可精确的监控CIS中PD的电容以及FD电容。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 监控 cis 像素 单元 相关 电容 电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种监控CIS像素单元相关电容的电路，其特征在于：该电路包括m×n个4T CIS单元组成的阵列，将该阵列中的m×n个传输管T1_1～Tm_n的栅极均连接至传输控制信号TX G，将m×n个行选择器R1_1～Rm_n的栅极均连接至行选择控制信号RS G，将m×n个复位管P1_1～Pm_n的栅极均连接至复位控制信号RST G，将m×n个4T CIS单元的节点FD1_1～FDm_n均连接到一起作为电容测试的输出端FD，将m×n个4T CIS单元的输出均连接到一起作为CIS的输出，通过控制作为控制开关的传输控制信号TXG，实现测量PD等效电容以及FD等效电容。
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