[发明专利]雷达料位计系统以及确定储罐内的产品的填充料位的方法

摘要

本公开涉及雷达料位计系统以及确定储罐内的产品的填充料位的方法。该雷达料位计系统包括：收发器装置；第一探针，其向储罐内的产品导引第一发射信号通过周围介质，并且返回第一表面回波信号，该第一探针被配置成以对周围介质的介电常数呈现第一依赖关系的第一传播速度导引第一发射信号；第二探针，其向产品导引第二发射信号通过周围介质，并且返回第二表面回波信号，该第二探针被配置成以对周围介质的介电常数呈现不同于第一依赖关系的第二依赖关系的第二传播速度导引第二发射信号；以及处理电路，用于基于第一表面回波信号、第二表面回波信号以及第一依赖关系与第二依赖关系之间的已知关系来确定填充料位。

主权项

一种雷达料位计系统，用于确定储罐内的产品的填充料位，所述雷达料位计系统包括：收发器装置，用于产生、发射以及接收电磁信号；第一传输线探针，被布置并且被配置成向所述储罐内的所述产品导引来自所述收发器装置的电磁第一发射信号通过周围介质，以及向所述收发器装置返回由所述产品的表面对所述第一发射信号的反射引起的电磁第一表面回波信号，所述第一传输线探针被配置成以对所述周围介质的介电常数呈现第一依赖关系的第一传播速度导引所述第一发射信号；第二传输线探针，被布置并且被配置成向所述储罐内的所述产品导引来自所述收发器装置的电磁第二发射信号通过所述周围介质，以及向所述收发器装置返回由所述产品的所述表面对所述第二发射信号的反射引起的电磁第二表面回波信号，所述第二传输线探针被配置成以对所述周围介质的介电常数呈现第二依赖关系的第二传播速度导引所述第二发射信号，其中所述第二依赖关系不同于所述第一依赖关系；以及处理电路，其连接至所述收发器装置，用于基于所述第一表面回波信号、所述第二表面回波信号以及对所述周围介质的介电常数的所述第一依赖关系与所述第二依赖关系之间的已知关系来确定所述填充料位。