[发明专利]EVA剥离强度测试方法在审
申请号: | 201611080487.4 | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN106784135A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 胡传明;王又美 | 申请(专利权)人: | 安徽振兴光伏新能源有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/66;G01N19/04 |
代理公司: | 六安众信知识产权代理事务所(普通合伙)34123 | 代理人: | 黎照西 |
地址: | 237000 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了EVA剥离强度测试方法,按照正常的生产工艺提供的层压参数,将敷设的样板放入层压机内进行层压,且敷设的次序为玻璃‑EVA‑EVA‑背板,把层压好的样板放在工作台上,并用标签纸进行编号,同时用笔画出宽为10‑15mm的检测条,长度应为整块样品的长度,并依次标记需要做的实验标准要求,用刀具沿着两条划线的部分进行匀速的划切,切割的长度应为整块检测样品的长度,然后通过微型材料试验机进行装夹测试,在规定的剥离条件下,使胶接试样分离时单位宽度所能承受的载荷,能够测试EVA与钢化玻璃间、EVA与背板间的剥离强度、背板复合层间剥离强度,对光伏组件背板质量进行有效保证。 | ||
搜索关键词: | eva 剥离 强度 测试 方法 | ||
【主权项】:
EVA剥离强度测试方法,其特征在于,它包括有以下操作步骤:1)制作样品:按照正常的生产工艺提供的层压参数,将敷设的样板放入层压机内进行层压,且敷设的次序为:玻璃‑EVA‑EVA‑背板;2)标记样品:把层压好的样板放在工作台上,并用标签纸进行编号,同时用笔画出宽为10‑15mm的检测条,长度应为整块样品的长度,并依次标记需要做的实验标准要求;3)切割样品:用刀具沿着两条划线的部分进行匀速的划切,切割的长度应为整块检测样品的长度;4)背板‑EVA间剥离强度测试:将EVA及背板充分剥离一段距离后,将样品放到微型材料试验机上,样品夹到下方的大工装夹具上,切割的检测条反向180°的夹到上方小夹具中间位置,然后进行拉力测试,将测试样品左、中、右位置三相数据,记录测试范围结果,并取平均值;5)EVA‑钢化玻璃间剥离强度测试:同理与上一步方法一样放入到微型材料试验机上进行拉力测试,并在样品相同的位置取得数据后,取平均值。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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