[发明专利]基于实际运行环境下的LED寿命预测方法

摘要

本发明公开了基于实际运行环境下的LED寿命预测方法，属于LED产品测试的技术领域。本发明通过加速试验报告数据，建立具有相同加速因子的单个LED寿命模型和一批LED寿命模型，通过构建影响LED寿命的关键因素p‑n结内部结温反馈系统图得到LED工作时的实时结温，由LED工作时的实际结温以及批量LED寿命模型预测LED寿命，适用于各种LED工作电流和外界环境温度变化的场合，提供了一种在变化工作环境下真实预测各种置信度或置信区间下一定比例的LED失效所需时间的方法，有利于指导LED散热及系统设计，提高LED照明产品的寿命和可靠性，该方法可推广到LED驱动器以及整个LED照明系统的寿命预测。

主权项

基于实际运行环境下的LED寿命预测方法，其特征在于，步骤A、根据LED实际运行环境及其型号确定其环境温度变化曲线以及驱动电流变化曲线，根据LED应用场合选定LED寿命标准；步骤B、根据LED失效机理建立单个LED寿命模型Lp(IF,TJ)：和批量LED寿命模型BX(IF,TJ)：所述单个LED寿命模型和批量LED寿命模型具有相同的加速因子AF(n,Ea)：Lp(IF,TJ)为LED在驱动电流IF和结温TJ确定的应力水平下达到最初光通量p％所需时间，Ap为单个LED寿命模型的常数，n为比例因子，Ea为分子激活能，kB为玻尔兹曼常数，BX(IF,TJ)为批量LED在驱动电流IF和结温TJ确定的应力水平下X％个LED的输出光通量下降到最初光通量p％所需的时间，即，BX(IF,TJ)为在驱动电流IF和结温TJ确定的应力水平下批量LED失效率为X％时的寿命，AX为批量LED寿命模型的常数，(IF0,TJ0)为初始驱动电流IF0和初始结温TJ0确定的应力水平，根据步骤A选定的LED寿命标准拟合不同应力水平下LED寿命的韦伯分布曲线以确定分子激活能Ea、比例因子n，批量LED寿命模型的常数AX的取值；步骤C、获取LED在实际运行环境下的结温曲线；步骤D、根据LED在实际运行环境下的结温曲线和批量LED寿命模型预测批量LED的寿命。