[发明专利]单行载流子探测器及其制作方法有效
申请号: | 201611081535.1 | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN106505116B | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 谭明;陆书龙;代盼;吴渊渊;史后明;章胜;徐作栋;张恒;杨文献;王梦雪;袁正兵;肖梦;徐超;黄寓洋;任雪勇 | 申请(专利权)人: | 苏州苏纳光电有限公司 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/109;H01L31/18 |
代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人: | 王锋 |
地址: | 215000 江苏省苏州市苏州工业*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开了一种单行载流子探测器及其制作方法,包括:I、利用分子束外延(MBE)设备在SI‑InP衬底上生长NIN‑IP(N是N型掺杂,I是本证掺杂,P是P型掺杂)双吸收区红外探测器外延层,采用GaSbAs扩散吸收区和渐变掺杂吸收区,AlGaSbAs作为阻挡层,形成单行载流子器件;II、利用半开关管Zn扩散的方法使U‑GaSbAs材料实现反型,从而形成P型扩散吸收层。III、在三台面制备时,引入溴水/氢溴酸和磷酸体系,选择型腐蚀和非选择性腐蚀混合使用,形成了正梯形侧壁表面,避免了侧向腐蚀。IV、在钝化过程中,采用BCB进行钝化,金属/RTP/BCB/SIN的方法,避免了退火对BCB钝化效果的影响。 | ||
搜索关键词: | 单行 载流子 探测器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种单行载流子探测器,其特征在于,包括衬底、外延层和电极,所述外延层形成于所述衬底上,所述电极与所述外延层连接,所述外延层包括依次形成于所述外延层上的第一吸收区和第二吸收区,所述第一吸收区包括沿背离所述衬底方向依次形成的GaSbAs渐变掺杂吸收层和InGaAs吸收层,所述第二吸收区包括沿背离所述衬底方向依次形成的InGaAs本征吸收层和GaSbAs扩散吸收层,所述第一吸收区和第二吸收区采用AlGaSbAs作为阻挡层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的