[发明专利]一种用于全桥整流的新型肖特基器件及制造方法有效
申请号: | 201611082805.0 | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN106449640B | 公开(公告)日: | 2023-07-18 |
发明(设计)人: | 关世瑛 | 申请(专利权)人: | 上海芯石微电子有限公司 |
主分类号: | H01L27/08 | 分类号: | H01L27/08;H01L29/872;H01L21/822 |
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地址: | 201605 上海市松*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种适用于全桥整流的肖特基器件;该器件具有新型的结构,用一颗本发明的肖特基器件,可实现全桥整流功能,而传统的半桥整流器件,需要四颗传统的肖特基器件组合封装到一起才能实现;传统的全桥整流的肖特基器件封装复杂,成品率低,而本发明的肖特基器件,可简化封装难度,封装成品率高;另外,本发明的肖特基器件的制造制程,与传统的肖特基器件的加工制程兼容性好。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 整流 新型 肖特基 器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种用于全桥整流的新型肖特基器件(0),其特征在于结构包括:有四个独立的N‑外延岛(1)、(2)、(3)、(4),四个N‑外延岛的上表面都分别有一个肖特基势垒结(12)、(22)、(32)、(42),在每个势垒区边缘处,都分别有P+保护环(11)、(21)、(31)、(41),在P+保护环的外侧,有绝缘介质层(8),在每个肖特势垒区上分别与金属层相连形成器件的电极(13)、(23)、(33)、(43),电极(13)与电极(33)导通,构成整流器件的共阳输出极;N‑外延岛(2)、(4)侧壁与低掺杂浓度的P型外延层P‑相接,底部与高浓度的N型单晶硅片N+相接;N‑外延岛(1)、(3)分别被高浓度掺杂的N++区(14)、(34)包围,高浓度掺杂的N++区(14)、(34)分别被处于N+硅刻蚀区(100)、(300)上方的P型外延层P‑包围,并且高浓度掺杂的N++区(14)与电极(23)相连,高浓度掺杂的N++区(34)与电极(43)相连,电极(23)、电极(43)分别形成整流器件的两个输入极;在单晶片N+的底部蒸发金属层形成背面电极(9),构成整流器件的共阴输出极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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