[发明专利]一种用于全桥整流的新型肖特基器件及制造方法有效

专利信息
申请号: 201611082805.0 申请日: 2016-11-30
公开(公告)号: CN106449640B 公开(公告)日: 2023-07-18
发明(设计)人: 关世瑛 申请(专利权)人: 上海芯石微电子有限公司
主分类号: H01L27/08 分类号: H01L27/08;H01L29/872;H01L21/822
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201605 上海市松*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种适用于全桥整流的肖特基器件;该器件具有新型的结构,用一颗本发明的肖特基器件,可实现全桥整流功能,而传统的半桥整流器件,需要四颗传统的肖特基器件组合封装到一起才能实现;传统的全桥整流的肖特基器件封装复杂,成品率低,而本发明的肖特基器件,可简化封装难度,封装成品率高;另外,本发明的肖特基器件的制造制程,与传统的肖特基器件的加工制程兼容性好。
搜索关键词: 一种 用于 整流 新型 肖特基 器件 制造 方法
【主权项】:
一种用于全桥整流的新型肖特基器件(0),其特征在于结构包括:有四个独立的N‑外延岛(1)、(2)、(3)、(4),四个N‑外延岛的上表面都分别有一个肖特基势垒结(12)、(22)、(32)、(42),在每个势垒区边缘处,都分别有P+保护环(11)、(21)、(31)、(41),在P+保护环的外侧,有绝缘介质层(8),在每个肖特势垒区上分别与金属层相连形成器件的电极(13)、(23)、(33)、(43),电极(13)与电极(33)导通,构成整流器件的共阳输出极;N‑外延岛(2)、(4)侧壁与低掺杂浓度的P型外延层P‑相接,底部与高浓度的N型单晶硅片N+相接;N‑外延岛(1)、(3)分别被高浓度掺杂的N++区(14)、(34)包围,高浓度掺杂的N++区(14)、(34)分别被处于N+硅刻蚀区(100)、(300)上方的P型外延层P‑包围,并且高浓度掺杂的N++区(14)与电极(23)相连,高浓度掺杂的N++区(34)与电极(43)相连,电极(23)、电极(43)分别形成整流器件的两个输入极;在单晶片N+的底部蒸发金属层形成背面电极(9),构成整流器件的共阴输出极。
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