[发明专利]系外类地行星天基高精度探测方法在审

专利信息
申请号: 201611083655.5 申请日: 2016-11-30
公开(公告)号: CN106371149A 公开(公告)日: 2017-02-01
发明(设计)人: 张嵬;杜洋;常亮;陆希;谢攀 申请(专利权)人: 上海卫星工程研究所
主分类号: G01V8/10 分类号: G01V8/10
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司31236 代理人: 郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种系外类地行星天基高精度探测方法,其包括下列步骤步骤一,根据系外类地行星发现科学目标及具体要求,确定探测天区基本方位,完成潜在探测目标的设定,明确探测计划;步骤二,利用探测器天基望远镜系统开展目标观测,此刻目标为单颗恒星,需借助导星系统实现对目标的精确导引,完成目标辐射信号收集;步骤三,望远镜系统所收集的光信号,通过狭缝照射方式完成信号向光谱仪系统的转移。本发明适用于系外类地行星高精度探测的近地及深空探测器设计,原理简单,思路清晰,对系外类地行星天基高精度探测具有重要意义。
搜索关键词: 系外类 行星 高精度 探测 方法
【主权项】:
一种系外类地行星天基高精度探测方法,其特征在于,其包括下列步骤:步骤一,根据系外类地行星发现科学目标及具体要求,确定探测天区基本方位,完成潜在探测目标的设定,明确探测计划;步骤二,利用探测器天基望远镜系统开展目标观测,此刻目标为单颗恒星,需借助导星系统实现对目标的精确导引,完成目标辐射信号收集;步骤三,望远镜系统所收集的光信号,通过狭缝照射方式完成信号向光谱仪系统的转移;步骤四,狭缝出射光经过准直系统后,以平行光形式进入反射式阶梯光栅,完成高色散过程,光谱分辨率一般达到几万至十几万量级,为后续沿狭缝方向的级次色散作好准备;步骤五,反射式阶梯光栅高色散光进入色散棱镜,完成沿狭缝方向上级次分离,形成高色散二维光谱;步骤六,高色散二维谱图经成像系统后由CCD探测阵面采集,根据事前标定的空间位置与波长的对应关系,获得二维谱图的精确定量信息;步骤七,基于二维谱图,采用交叉相关处理法,获得目标恒星与探测器间相对视向运动速度信息,经误差处理后,拟合获得视向速度曲线;步骤八,基于视向速度曲线振幅信息,结合掩星探测法所获得目标行星运行轨道倾角、轨道周期及轨道偏心率,完成目标行星质量解算,获得目标行星完备的运动学参数。
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