[发明专利]一种适用小型化封装的半桥整流肖特基器件及制造方法有效

专利信息
申请号: 201611084745.6 申请日: 2016-11-30
公开(公告)号: CN106409828B 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: 关世瑛 申请(专利权)人: 上海芯石微电子有限公司
主分类号: H01L27/08 分类号: H01L27/08;H01L21/822
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201605 上海市松*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种适用小型化封装的半桥整流肖特基器件;该器件具有新型的结构,用一颗本发明的肖特基器件,可实现半桥整流功能,而传统的半桥整流器件,需要两颗传统的肖特基器件才能实现;同时,此肖特基器件的芯片面积与一颗传统的肖特基器件的芯片尺寸相当,因此与同规格传统的半桥整流肖特基器件比,可使用更小的封装体,最终实现半桥整流肖特基器件的封装小型化。另外,本发明的肖特基器件的制造制程,与传统的肖特基器件的加工制程兼容性好,容易实现。
搜索关键词: 一种 适用 小型化 封装 整流 肖特基 器件 制造 方法
【主权项】:
一种适用小型化封装的半桥整流肖特基器件(0),其特征在于结构包括:在高掺杂的N+衬底硅片的两个表面上,双面外延形成上外延层和下外延层N‑,在上外延层表面,有一个肖特基势垒区(4),在势垒区边缘处,有P+保护环(3),在P+保护环(3)外侧,有厚的介质绝缘层(2),肖特基势垒区表面的金属层形成器件的上阳极(5);上外延层的边缘,围绕一个扩通外延层,且与N+衬底层相交的高浓度的N型掺杂环(1),高浓度的N型掺杂环(1)表面有薄的绝缘介质层(6),高浓度掺杂环(1)上的金属层形成器件的共阴极(10);在下外延层表面,有一个肖特基势垒区(14),在势垒区边缘处,有P+保护环(13),在P+保护环(13)外侧,有厚的介质绝缘层(12),肖特基势垒区表面的金属层形成器件的下阳极(15);下外延层的边缘,围绕一个扩通外延层,且与N+衬底层相交的高浓度的N型掺杂环(11),高浓度的N型掺杂环(11)表面有薄的绝缘介质层(16),薄绝缘介质层(16)与厚绝缘介质层(12),有台阶差。
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