[发明专利]一种适用小型化封装的半桥整流肖特基器件及制造方法有效
申请号: | 201611084745.6 | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN106409828B | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
发明(设计)人: | 关世瑛 | 申请(专利权)人: | 上海芯石微电子有限公司 |
主分类号: | H01L27/08 | 分类号: | H01L27/08;H01L21/822 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201605 上海市松*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种适用小型化封装的半桥整流肖特基器件;该器件具有新型的结构,用一颗本发明的肖特基器件,可实现半桥整流功能,而传统的半桥整流器件,需要两颗传统的肖特基器件才能实现;同时,此肖特基器件的芯片面积与一颗传统的肖特基器件的芯片尺寸相当,因此与同规格传统的半桥整流肖特基器件比,可使用更小的封装体,最终实现半桥整流肖特基器件的封装小型化。另外,本发明的肖特基器件的制造制程,与传统的肖特基器件的加工制程兼容性好,容易实现。 | ||
搜索关键词: | 一种 适用 小型化 封装 整流 肖特基 器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种适用小型化封装的半桥整流肖特基器件(0),其特征在于结构包括:在高掺杂的N+衬底硅片的两个表面上,双面外延形成上外延层和下外延层N‑,在上外延层表面,有一个肖特基势垒区(4),在势垒区边缘处,有P+保护环(3),在P+保护环(3)外侧,有厚的介质绝缘层(2),肖特基势垒区表面的金属层形成器件的上阳极(5);上外延层的边缘,围绕一个扩通外延层,且与N+衬底层相交的高浓度的N型掺杂环(1),高浓度的N型掺杂环(1)表面有薄的绝缘介质层(6),高浓度掺杂环(1)上的金属层形成器件的共阴极(10);在下外延层表面,有一个肖特基势垒区(14),在势垒区边缘处,有P+保护环(13),在P+保护环(13)外侧,有厚的介质绝缘层(12),肖特基势垒区表面的金属层形成器件的下阳极(15);下外延层的边缘,围绕一个扩通外延层,且与N+衬底层相交的高浓度的N型掺杂环(11),高浓度的N型掺杂环(11)表面有薄的绝缘介质层(16),薄绝缘介质层(16)与厚绝缘介质层(12),有台阶差。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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