[发明专利]一种极低照度条件下光子计数激光三维计算成像方法在审
| 申请号： | 201611088456.3 | 申请日： | 2016-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN106683168A | 公开（公告）日： | 2017-05-17 |
| 发明（设计）人： | 李少军;靳松直;张聪;高仕博;蔡伟 | 申请（专利权）人： | 北京航天自动控制研究所 |
| 主分类号： | G06T17/00 | 分类号： | G06T17/00 |
| 代理公司： | 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙)11466 | 代理人： | 张璐;黄启行 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种极低照度条件下光子计数激光三维计算成像方法，包括：同时测量得到所有像素的光子计数数据；构建光子数量与反射率的测量模型，并构建第一负对数似然函数；根据总变分半范数和第一负对数似然函数，构建第一目标函数；逐点迭代求解第一目标函数的凸优化问题，得到反射率图像；根据空间相关性构造二元假设检验统计量，筛选背景光子噪声；建立光子到达时间与测量距离的测量模型，并构建第二负对数似然函数；根据总变分半范数和第二负对数似然函数，构建第二目标函数；逐点迭代求解第二目标函数的凸优化问题，得到深度图像。通过使用本发明所提供的方法，可以在光子计数模式下同时获取高质量的激光三维距离像和强度像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 照度 条件下 光子 计数 激光 三维 计算 成像 方法 | ||
【主权项】：
一种极低照度条件下光子计数激光三维计算成像方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：同时测量得到所有像素的光子计数数据；构建光子数量与反射率的测量模型，并构建给定光子数量条件下反射率的第一负对数似然函数；根据总变分半范数和第一负对数似然函数，构建第一目标函数Gα(x,y)；逐点迭代求解第一目标函数Gα(x,y)的凸优化问题，得到并输出反射率图像；根据空间相关性构造二元假设检验统计量，筛选背景光子噪声；建立光子到达时间与测量距离的测量模型，并构建光子达到时间条件下测量距离的第二负对数似然函数；根据总变分半范数和第二负对数似然函数，构建第二目标函数JR(x,y)；逐点迭代求解第二目标函数JR(x,y)的凸优化问题，得到并输出深度图像。
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