[发明专利]雷达料位计系统以及确定储罐中的界面料位的方法

摘要

本公开涉及雷达料位计系统以及确定储罐中的界面料位的方法。该雷达料位计系统包括：收发器；储罐馈通；功率分配器，其将传输信号分成第一传输信号和第二传输信号；第一探针构件，其被配置成导引第一传输信号并且返回第一反射信号，第一探针构件提供相对大的第一平均衰减；第二探针构件，其被配置成导引第二传输信号并且返回第二反射信号，第二探针构件提供相对小的第二平均衰减；测量信号形成电路，其用于形成测量信号，测量信号包括指示第一传输信号的反射的第一组回波指示以及指示第二传输信号的反射的第二组回波指示；以及料位确定电路，其用于基于第一组回波指示确定第一料位并且基于第二组回波指示确定较深的第二料位。

主权项

一种雷达料位计系统，用于安装在包含分层物质成分的储罐处，所述分层物质成分至少包括具有第一密度的第一物质、具有大于所述第一密度的第二密度的第二物质以及具有大于所述第二密度的第三密度的第三物质，所述雷达料位计系统用于确定所述第一物质与所述第二物质之间的第一界面的第一料位以及所述第二物质与所述第三物质之间的第二界面的第二料位，所述雷达料位计系统包括：收发器，用于生成和发送电磁传输信号，以及接收电磁反射信号；储罐馈通，其连接至所述收发器；功率分配器，其连接至所述馈通，以将来自所述收发器的传输信号分成第一传输信号和第二传输信号，并且将第一反射信号和第二反射信号组合成由所述收发器接收的所述反射信号；第一传输线探针构件，其上端连接至所述功率分配器，并且所述第一传输线探针构件被配置成朝向所述第一传输线探针构件的下端导引所述第一传输信号至少部分地穿过所述分层物质成分，并且返回所述第一传输信号在其遇到的任何阻抗不连续处的反射所导致的所述第一反射信号，所述第一传输线探针构件被配置成提供所述第一传输信号与所述分层物质成分之间的相互作用，导致所述第一传输信号的相对大的第一平均衰减；第二传输线探针构件，其上端连接到所述功率分配器，并且所述第二传输线探针构件被配置成朝向所述第二传输线探针构件的下端导引所述第二传输信号至少部分地穿过所述分层物质成分，并且返回所述第二传输信号在其遇到的任何阻抗不连续处的反射所导致的所述第二反射信号，所述第二传输线探针构件被配置成提供所述第二传输信号与所述分层物质成分之间的相互作用，导致所述第二传输信号的相对小的第二平均衰减；测量信号形成电路，其连接至所述收发器，用于基于所述反射信号以及所述传输信号与所述反射信号之间的定时关系来形成测量信号，所述测量信号包括指示所述第一传输信号在所述第一传输信号所遇到的阻抗不连续处的反射的第一组回波指示以及指示所述第二传输信号在所述第一传输信号所遇到的阻抗不连续处的反射的第二组回波指示；以及料位确定电路，其连接至所述回波识别电路，用于基于所述第一组回波指示中的至少一个回波指示确定所述第一料位以及基于所述第二组回波指示中的至少一个回波指示确定所述第二料位。