[发明专利]一种激波串分离点定位方法

摘要

本发明公开了一种激波串分离点定位方法，用于超/高超声速流场纹影显示技术；通过提取纹影图像灰度，分析分离点列向量特征，捕捉并定位图像中符合该特征的灰度向量，并确定特征点坐标，将该坐标作为分离点坐标，由此完成分离点的定位。本发明给出了壁面分离点灰度特征的计算模型，能够精确捕捉定位激波串在任一时刻的分离位置，实现了对大批量纹影试验数据的数字化定量处理，大幅提高纹影图像数据在该研究领域中的利用率。

主权项

1.一种激波串分离点定位方法，其特征在于，包括步骤：设定灰度矩阵分析范围，计算分析灰度矩阵列向量特征，建立判据，捕捉并定位图像中符合壁面分离特征的灰度向量，将其特征点坐标作为分离点坐标，实现对分离点的位置定位；具体步骤如下：1)选定分析窗口并提取该窗口灰度矩阵，保证激波串分离点所能到达的任一位置均在该窗口内；2)基于上述确定的灰度矩阵，从右向左逐一分析每一列向量，采用光滑插值并重新采样的方法处理列向量，计算灰度突变点纵坐标，并将所有计算的纵坐标生成一维数组；3)分析上述得到的一维数组，确定跳跃度大小符合附面层厚度值特征的点，将该点横坐标作为分离点横坐标，使得|U[x]‑U[x‑1]|＞d的x作为上分离点横坐标，使得|L[x]‑L[x‑1]|＞d的x作为下分离点横坐标；其中，|U[x]‑U[x‑1]|为上壁面灰度跳跃度，U[x]和U[x‑1]分别为上壁面相邻两组灰度列向量跳跃处纵坐标；|L[x]‑L[x‑1]|为下壁面灰度跳跃度，L[x]和L[x‑1]分别为下壁面相邻两组灰度列向量跳跃处纵坐标；x为横坐标；d为附面层厚度；4)将上述得到的横坐标代入灰度矩阵，确定该横坐标下列向量的灰度突变点纵坐标，该纵坐标作为分离点纵坐标。