[发明专利]基于显微视觉的白玻表面缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201611092438.2 | 申请日： | 2016-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN106770372B | 公开（公告）日： | 2019-07-26 |
| 发明（设计）人： | 袁伦喜;张正涛;杨化彬;陶显;徐德 | 申请（专利权）人： | 中国科学院自动化研究所;中国科学院自动化研究所（洛阳）机器人与智能装备创新研究院 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 北京瀚仁知识产权代理事务所(普通合伙) 11482 | 代理人： | 宋宝库 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于缺陷检测领域，具体提供一种基于显微视觉的白玻表面缺陷检测方法。本发明旨在解决白玻外观品质检测需要人为参与并因此对人眼睛造成伤害以及增加了工人劳动强度的问题。本发明的方法包括以下步骤：对白玻表面的图像进行预处理；根据预处理的结果确定白玻表面上的候选缺陷；获取所述候选缺陷的缺陷特征；根据所述缺陷特征剔除缺陷干扰项；根据所述缺陷特征对剩余缺陷进行融合；计算融合后的缺陷尺寸。本发明的方法能够准确地检测出白玻表面的缺陷，满足手机白玻表面缺陷检测的需要，进而避免了人员参与。 | ||
| 搜索关键词： | 表面缺陷检测 缺陷特征 预处理 候选缺陷 显微视觉 外观品质检测 结果确定 缺陷检测 剩余缺陷 融合 干扰项 手机 剔除 图像 检测 伤害 | ||
【主权项】：
1.一种基于显微视觉的白玻表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：对白玻表面的图像进行预处理；根据预处理的结果确定白玻表面上的候选缺陷；获取所述候选缺陷的缺陷特征；根据所述缺陷特征剔除缺陷干扰项；根据所述缺陷特征对剩余缺陷进行融合；计算融合后的缺陷尺寸；其中，“获取所述候选缺陷的缺陷特征”的步骤进一步包括获取下列各项中的至少一项：所述候选缺陷的最小外接矩形的特征、所述候选缺陷的直线度、所述候选缺陷的平滑度以及所述候选缺陷的亮像素浓度特征。
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