[发明专利]一种电子设备的测试系统在审

专利信息
申请号: 201611096447.9 申请日: 2016-12-02
公开(公告)号: CN106771725A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 王轩;何伟;王清亮;张丹;赵瑶瑶 申请(专利权)人: 上海华测导航技术股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 上海宣宜专利代理事务所(普通合伙)31288 代理人: 杨小双
地址: 200233 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及电压冲击检测领域,尤其涉及一种电子设备的测试系统。本发明通过一个简易的测试系统来完成设备的电压冲击试验进行摸底测试,如果通过测试的设备即可准备进行国标的相关严格测试,如果未通过测试,则需要硬件组进行相关的调试和改进。本发明相比较而言只是在进行电压冲击国标试验前的一次摸底测试以及可以用作在常规电气性能中电压冲击的可靠性测试,简便易行,可操作性高;对电子设备外接供电的情况概述的比较全面,测试结果相对可靠,并且本发明需要搭配使用的设备较少,投入的资金较少。
搜索关键词: 一种 电子设备 测试 系统
【主权项】:
一种电子设备的测试系统,其特征在于,应用于程控电源模块对电子设备进行电压冲击测试,所述程控电源模块包括:正常检测模块,用以检测所述电子设备在电压承受范围内是否正常工作,输出第一检测数据;边缘检测模块,用以检测所述电子设备在所述电压承受范围的临界值时,连续供电断电是否正常工作,输出第二检测数据;浮动检测模块,用以检测所述电子设备在所述电压承受范围的上下浮动预设值是否正常工作,输出第三检测数据;串口调试模块,分别连接所述正常检测模块、所述边缘检测模块和所述浮动检测模块,获取并保存所述第一检测数据、所述第二检测数据和所述第三检测数据。
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