[发明专利]具有金属氧化物通道层之增强型场效晶体管在审

专利信息
申请号: 201611096508.1 申请日: 2016-12-02
公开(公告)号: CN106876474A 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: 石宸玮;荆凤德 申请(专利权)人: 先进元件研发公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786
代理公司: 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙)11369 代理人: 史霞
地址: 塞舌尔马埃岛普罗维登*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种增强型N‑型场效晶体管具有一金属氧化物通道层、一闸极介电层、一闸极电极、一源极电极、及漏极电极。该金属氧化物通道层具有选自SnO2、氧化铟锡(ITO)、ZnO、及In2O3的一材料且具有小于一阈值的一厚度。该金属氧化物通道层之该厚度小于该阈值使得该增强型N‑型场效晶体管在转移特性中表现出夹止行为,且使得该增强型N‑型场效晶体管在正操作电压下具有不饱和的电迁移率趋势。
搜索关键词: 具有 金属 氧化物 通道 增强 型场效 晶体管
【主权项】:
一种增强型N‑型场效晶体管,包含:一金属氧化物通道层,包含选自SnO2、氧化铟锡(ITO)、ZnO、及In2O3的一材料且具有小于一阈值的一厚度;一闸极介电层;一闸极电极,藉由该闸极介电层而与该金属氧化物信道层实体分离;一源极电极;及一漏极电极,该金属氧化物通道层之该厚度小于该阈值使得该增强型N‑型场效晶体管在转移特性(transfer characteristics)中表现出夹止行为(pinch‑off behavior),且使得该增强型N‑型场效晶体管在正操作电压下具有不饱和的电迁移率趋势。
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