[发明专利]一种用于安检图像复杂度的分析方法有效
| 申请号： | 201611097069.6 | 申请日： | 2016-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN106651841B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 何竞择;徐圆飞;张文杰 | 申请（专利权）人： | 北京航星机器制造有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 陈鹏 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种用于安检图像复杂度的分析方法，首先获取被检测物体的X射线图像，进而得到被检物体的尺寸、被检物体在X射线图像中的像素密度分布、被检物体中各个物体的轮廓线条数量、被检物体中各个物体的轮廓线条长度、被检物体中各个物体的最大叠压层数、X射线穿透被检物体后的能量、被检物体有效原子序数与违禁物品的近似程度，然后生成得到被检物体的复杂度，并根据被检物体的复杂度提醒安检员对复杂度最大的被检物体进行检查。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 安检 图像 复杂度 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种用于安检图像复杂度的分析方法，其特征在于包括如下步骤：(1)获取被检测物体的X射线图像；(2)根据X射线图像获取得到被检物体的尺寸、被检物体在X射线图像中的像素密度分布、被检物体中各个物体的轮廓线条数量、被检物体中各个物体的轮廓线条长度、被检物体中各个物体的最大叠压层数、X射线穿透被检物体后的能量、被检物体有效原子序数与违禁物品的近似程度；(3)根据步骤(2)得到的被检物体的尺寸、被检物体在X射线图像中的像素密度分布、被检物体中各个物体的轮廓线条数量、被检物体中各个物体的轮廓线条长度、被检物体中各个物体的最大叠压层数、X射线穿透被检物体后的能量、被检物体有效原子序数与违禁物品的近似程度生成得到被检物体的复杂度；(4)提醒安检员对复杂度最大的被检物体进行检查。
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