[发明专利]一种光学装配中光学元件空间的测量和装配方法

摘要

本发明涉及一种光学装配中光学元件空间的测量和装配方法，采用三维扫描设备对光学元件进行扫描，得到准确的数据，然后通过三维造型软件生成一个实际模型，然后实际模型和理论模型进行匹配，得到我们需要的光学元件的装配误差数据。优点是对于开放式光学系统，使用三维扫描设备和三维造型软件，生成光学元件空间位置的装配数学模型，可以比较全面的得到光学系统的全部装配情况，比单一的一个数据更全面。方法可为非接触测量，测量过程中对光学元件的位置不会产生变化。方法有更广的应用范围，不但可以用于光学元件的测量，还可以用于非光学元件空间位置的测量。

主权项

一种光学装配中光学元件空间的测量和装配方法，其特征在于步骤如下：步骤1：采用三维扫描设备扫描装配基准，以装配基准建立一个空间坐标系；所述装配基准的坐标系选择与理论模型一致的坐标系；步骤2：对光路中的各个光学元件进行扫描，得到各个光学元件的数据以及位于空间的坐标数据；步骤3：根据扫描的数据，采用三维造型软件生成表达各个光学元件的模型以及相互位置的空间模型；步骤4：将步骤3得到的空间模型与设计的理论空间模型进行对比，得到每个光学元件的位置误差；步骤5：按照位置误差表达的方向和差值对光路中的各个光学元件的位置进行调整；步骤6：重复步骤2～步骤5，直至实际扫描的各个光学元件的位置与设计的理论空间模型一致完成。