[发明专利]一种复杂环境下电路板柔性快速测试装置

摘要

本发明公开了一种复杂环境下电路板柔性快速测试装置，用于对待测试电路板进行柔性测试，该装置包含：柔性探针组件，包含若干个接触针，所述的若干个接触针分别连接待测试电路板的接线柱；定位柱组件，用于对待测电路板进行导向定位；快锁组件，用于锁紧待测试电路板；壳体组件，所述的壳体组件包含主壳体及接插件，所述的主壳体用于装设柔性探针组件、定位柱组件、快锁组件及接插件；所述的接插件与所述的接触针连接。本发明利用弹簧力保证各种复杂环境条件下每个测试点接触的可靠性，极大地提高了测试效率，提高了复杂环境下的测试可靠性。

主权项

1.一种复杂环境下电路板柔性快速测试装置，其特征在于，用于对待测试电路板进行柔性测试，该装置包含：柔性探针组件，包含若干个接触针，所述的若干个接触针分别连接待测试电路板的接线柱；定位柱组件，用于对待测电路板进行导向定位；快锁组件，用于锁紧待测试电路板；壳体组件，所述的壳体组件包含主壳体及接插件，所述的主壳体用于装设柔性探针组件、定位柱组件、快锁组件及接插件；所述的接插件与所述的接触针连接；所述的柔性探针组件还包含：接触座，所述的接触座呈台阶形，并且在接触座的顶部设有凹槽，凹槽的边沿上设有若干个台阶通孔，所述的接触座设置在所述的主壳体的上方，并与所述的主壳体连接；固定盖，所述的固定盖设置在所述的凹槽内；顶盖，所述的顶盖设置在所述的固定盖的上方，并且顶盖的顶部平面高于所述待测试电路板所在的平面；压紧盖，所述的压紧盖设置在所述的固定盖的下方，所述的压紧盖上设有与台阶通孔位置对应的压紧盖通孔；其中，接触针的一端为接触端部，另一端为焊线尾端，所述的接触端部穿过所述的台阶通孔与待测试电路板的接线柱连接，所述的焊线尾端穿过所述的压紧盖通孔与所述的接插件连接；若干个接触针弹簧，接触针弹簧套接在所述的接触针上，并且位于所述的台阶通孔内；所述的快锁组件包含若干个快锁单元，每一快锁单元包含：快锁座，所述的快锁座呈倒T形，包含相互垂直设置的横向座体与竖向座体，其中横向座体与所述的主壳体连接，所述的快锁座设有沿竖向贯穿竖向座体和横向座体的台阶沉孔；快锁压头，所述的快锁压头设置在所述的竖向座体的上方，所述的快锁压头包含一压紧端面，与待测试电路板的安装面贴合；快锁杆，所述的快锁杆穿过所述的台阶沉孔与所述的快锁压头连接；快锁弹簧，所述的快锁弹簧套接在所述的快锁杆上，所述的快锁弹簧设置在所述的台阶沉孔内；快锁盖，所述的快锁盖设置在所述的快锁杆下方，所述的快锁盖与所述的横向座体连接。