[发明专利]一种金属离子浓度的谱线数据优化分析方法

摘要

本发明公开一种金属离子浓度的谱线数据优化分析方法,包括以下步骤Step1.数据采集；Step2.数据处理，其包括去噪处理、校正处理、得到校正基线、得出校正峰值、得到校正峰面积；step3计算待测样品金属离子浓度；本发明通过使用算法进行去噪处理、寻找下凸包校正处理，获取校正基线、校正峰值、校正峰面积，可以使得基线、峰型更加规则易于计算，同时也可以使得计算结果更加准确。

主权项

一种金属离子浓度的谱线数据优化分析方法，其特征在于，包括以下步骤：Step1.数据采集设置极谱仪的扫描条件，包括富集时间、扫描速率、扫描电压范围、扫描电压步长，通过所述极谱仪扫描待测样品得到初始数据和初始谱线；Step2.数据处理所述数据处理步骤包括，step2.1去噪处理：对所述初始数据和所述初始谱线进行去噪处理，得到去燥数据和去燥谱线；所述去噪处理的方法为采用公式1：step 2.2校正处理对去燥处理后的所述去燥数据和所述去燥谱线进行校正处理，得到校正数据和校正谱线；step 2.3得到校正基线根据step2.2中的计算成果，计算校正基线；step 2.4得出校正峰值在所述校正基线下寻找并计算校正峰值；step 2.5得到校正峰面积在所述校正基线下计算校正峰面积；Step3. 计算待测样品金属离子浓度。