[发明专利]一种谱线优化处理方法在审
| 申请号： | 201611112436.5 | 申请日： | 2016-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN106596695A | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 应刚;彭建波;盛敏;栾旭东;张苏伟;方军 | 申请（专利权）人： | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/48 | 分类号： | G01N27/48 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215347 江苏省苏州市昆*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种谱线优化处理方法,包括以下步骤step1去噪处理；step 2校正处理；step 3得到校正基线；本发明通过使用算法进行去噪处理、寻找下凸包校正处理，获取校正基线、校正峰值、校正峰面积，可以使得基线、峰型更加规则易于计算，同时也可以使得计算结果更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 优化 处理 方法 | ||
【主权项】：
一种谱线优化处理方法，通过极谱仪扫描待测样品得到初始数据和初始谱线，对其进行去噪、校正处理，得出新的基线，并在新的基线基础上得到校正数据和校正谱线，其特征在于，包括以下步骤：step1去噪处理对所述初始数据和所述初始谱线进行去噪处理，得到去燥数据和去燥谱线；所述去噪处理的方法为采用公式1：step 2校正处理对去燥处理后的所述去燥数据和所述去燥谱线进行校正处理，得到校正数据和校正谱线；step 3得到校正基线根据step2中的计算成果，计算校正基线。
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