[发明专利]一种磁浮F轨磁极面的直线度检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201611114663.1 申请日: 2016-12-07
公开(公告)号: CN106595533B 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 张文会;佟来生;罗华军;王先锋;吴志会 申请(专利权)人: 中车株洲电力机车有限公司
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27;B61K9/08
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李海建
地址: 412001 *** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了磁浮F轨磁极面的直线度检测装置,包括测量构架,测量构架包括用于检测左F轨的外磁极面或内磁极面相对于测量构架的取点坐标的第一2D激光位移传感器,用于检测右F轨的外磁极面或内磁极面相对于测量构架的取点坐标的第二2D激光位移传感器,和数据处理单元;其中,处理数据处理单元用于根据左F轨的外磁极面相对于测量构架的取点坐标和右F轨的外磁极面相对于测量构架的取点坐标得出磁极面的直线度偏差值。仅需通过两个2D激光位移传感器即可实现磁极面的直线度偏差值,大大降低了成本。另外本发明还公开了一种磁浮F轨磁极面的直线度检测方法。
搜索关键词: 一种 磁极 直线 检测 装置 方法
【主权项】:
1.一种磁浮F轨磁极面的直线度检测装置,包括测量构架,其特征在于,所述测量构架包括:第一2D激光位移传感器(2),用于检测左F轨(5)的外磁极面(7)相对于所述测量构架(1)的第一取点坐标(X1,Z1),或检测左F轨(5)的内磁极面(8)相对于所述测量构架(1)的第二取点坐标(X2,Z2),且所述第一2D激光位移传感器(2)的激光线(4)平行于所述左F轨(5)的横截面;第二2D激光位移传感器(3),用于检测右F轨(6)的外磁极面(9)相对于所述测量构架(1)的第三取点坐标(X3,Z3),或检测右F轨(6)的内磁极面(10)相对于所述测量构架(1)的第四取点坐标(X4,Z4),且所述第二2D激光位移传感器(3)的激光线(4)平行于所述右F轨(6)的横截面;数据处理单元,用于根据已知点的坐标计算出对应未知点的坐标,其中(X1,Z1)和(X2,Z2)中的一个为已检测到的第一已知点,另一个为未检测到的且与所述第一已知点对应的第一未知点,并且所述第一已知点与所述第一未知点的距离为左F轨的外磁极面与内磁极面的距离,同时(X3,Z3)和(X4,Z4)中的一个为已检测到的第二已知点,另一个为未检测到且与所述第二已知点对应的第二未知点,并且所述第二已知点与所述第二未知点的距离为右F轨的外磁极面与内磁极面的距离;并根据(X1,Z1)、(X2,Z2)、(X3,Z3)和(X4,Z4)计算直线度偏差值。
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